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摘要 V]m}xZ'?^ pF9WKpzE
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 u%Mo.<PI [j0jAl
6']G HDK O+/{[9s 建模任务 *{5/" H5 A/"2a55 pred{HEye )rlkQ'DN 元件倾斜引起的干涉条纹 qq3/K9 #y ?M6)O?[
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