左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
GB{Q)L 系统简介 J5SOPG
N{?Qkkgx ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 +^3
*Y"6Z +m4?a\U 特征及技术参数 9d8 U@=
(d# W 3 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， / vAA]n8 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） Z&5 cJk
W - 入射光与探测器可共面或异面。 mhMRY9 ahB - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 15Im wQ - 可对样品进行扫描。 $j&2bO 5M - 动态范围： 13个数量级。 LX7<+`aa - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 iCdq-r/r!6 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 Kgb<uXk - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 }0 =gP?.kE - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 G$1gk ^G's - 方便操作的测量及分析软件。 0RP{_1k - 可分析值： 粗糙度，PSD等。
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eIj } 应用 |3=tF"h
@pV&{Vp 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Q#} c5TjVr - 产品质量检测。 28O 3N;a - 光学性能分析。 w"OeS;#e: - 粗糙度分析。 *wV`7\@ / ,3:< I
?}<Wmy2A QQ：2987619807 CM
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