左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
S9 ]'?| 系统简介 tk eoNuAM
/R]U}o^/(% ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ayR- \mZ 1"MhGNynB> 特征及技术参数 [1g8*j~L
`u3EU*~W - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， #rMlI3; - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） ;=) k<6 - 入射光与探测器可共面或异面。 =_JjmTy;a - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 f ph v - 可对样品进行扫描。 e ^6)Zz1\ - 动态范围： 13个数量级。 P{kur} T - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 LG{,c.Qj* - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 tqE6>"jD - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 _{I3i:f9X8 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 FtP 0krO( - 方便操作的测量及分析软件。 I&#| w"/"U - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 n{ n52][J] s4X>.ToM C 应用 CGW. I$u
2b}t,&bv? 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 V#2+"(7h - 产品质量检测。 deBY5| - 光学性能分析。 6M @[B|Q( - 粗糙度分析。 [M ]
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