左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
!P@u4FCs 系统简介 qjR;c&
q R
@<vDR"> ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ~ $r^Ur!E\ pE `Q4: <A 特征及技术参数 1bzPBi
S-2xe?sb - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， w** .8]A"N - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） h>mQ; L - 入射光与探测器可共面或异面。 $ L</{bXW - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 pMt]wyKr - 可对样品进行扫描。 & tMvs<q, - 动态范围： 13个数量级。 R2]?9\II - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 F!]UaE mV - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 [-6 j4D - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 P]Gsc - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 9k 7|B>LT - 方便操作的测量及分析软件。 !LIWoa[ F. - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 YY 7:WQS *qO o,e 应用 :\80*[=;Z
J=zZGd% 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 nWXI*%m5 - 产品质量检测。 K:'pK1zy - 光学性能分析。 *3"C"4S - 粗糙度分析。 r }hj,Sq' )_j.0a
&<_s XHg<x QQ：2987619807 Z?nM t
