左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
}'%^jt[3 系统简介 P+h6!=nD7
mj@31YW ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 }|Uj"e 6 mCq/ $ 特征及技术参数 .U9 R> #
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}! Z" - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， L\Y KdUL - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） )GVBE%!WEd - 入射光与探测器可共面或异面。 }!8nO; - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 r}
Lb3`' - 可对样品进行扫描。 Z`A x pTl - 动态范围： 13个数量级。 !6H uFf - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 g<$. - g - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 R:~(Z? - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 zOB !(R - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 p*
RC - 方便操作的测量及分析软件。 y;nvR6) - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 QdDObqVdy o@9+mM"B) 应用 03EV %Vc
/v|O nq1Y4 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 6\4Z\82 - 产品质量检测。 |O-`5_z$r - 光学性能分析。 o'Wz*oY))\ - 粗糙度分析。 ~-_i =q+R
H<`\bej, QQ：2987619807 H\E 7o" m
