左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
Y 5- F@( 系统简介 OR~8sU
!>..Q)z ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 s(/; U2"e )rn*iJ.e8 特征及技术参数 PNgY >=Y
K* LlW@ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， :L F? - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） n|Q@UPb/= - 入射光与探测器可共面或异面。 .WA-&b_ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 I9_RlAd - 可对样品进行扫描。 zPn+ V7F - 动态范围： 13个数量级。 gmw|H?] - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ]%@M>?Ywc - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 S"NqM[ W - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 qouhuH_WtJ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 J\twZ>w~0 - 方便操作的测量及分析软件。 [%y';`( x - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 !Xf5e*1IS .sha& 应用 `VA"vwz
i l4^zj82 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ?+@n3]`0 - 产品质量检测。 h7G"G" - 光学性能分析。 *+Ek0M - 粗糙度分析。 <wN }X#M ]7W&JKmA&
+h|`/ &, QQ：2987619807 Xv ]W(f1
