左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
f8
BZk h 系统简介 qJ sH
6P3h 955c ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 tr5j<O ol lsB3]] 特征及技术参数 0 N"N$f
o\F>K' - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， /GVjesN - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） PB
*v45 - 入射光与探测器可共面或异面。 X% )~i[_DV - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ^,0Lr$+ - 可对样品进行扫描。 =z;]FauR! - 动态范围： 13个数量级。 Vm8@ LA - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 CT5s`v!s - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 oYdE s&qq - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 $*VZa3B\ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 6DU~6c=) - 方便操作的测量及分析软件。 \-pqqSy - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 /vq$/ | p! ($ 应用 x3g4 r_
d<+hQ\B F, 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 XmD(&3; v- - 产品质量检测。 ; >>n#8` - 光学性能分析。 ^B0Qk:%P^N - 粗糙度分析。 >+Ig<}p <#J5.I 1
5JhvYsf3_ QQ：2987619807 PW|=IPS
