左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
0U~*u DU 系统简介 4,>9N 9.?9
,Ha <lU2K ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 &B ]1 VZUp e^'|<0J 特征及技术参数 PQp =bX,
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'+ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， RD46 @Q` - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） Q'qX`K+@` - 入射光与探测器可共面或异面。 k< 5g - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 G{I),Y~IF - 可对样品进行扫描。 |B^Mj57DO - 动态范围： 13个数量级。 uuxVVgWp{ - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 U
E $I x - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 xW]65iav - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 UOk\fyD2[ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 R8_I ASs - 方便操作的测量及分析软件。 ]jYFrOMy4S - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 R1 D ; N/ f7"~+` 应用 {VKFw=$8
PfZS "yk 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 aZ+><1TD - 产品质量检测。 : m(DRD - 光学性能分析。 6T4I,XrY_F - 粗糙度分析。 ~US t&? Zazff@O *
loO"[8i.k QQ：2987619807 z~ywFk}KGd
