左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
rX fQ_ 系统简介 0} HKmEM
%'t~+_ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 v#D9yttO{ kqv>rA3 特征及技术参数 30[?XVI&
/[_>U{~P# - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， D<Ads - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） b6oPnP_3P - 入射光与探测器可共面或异面。 N6yqA)z?; - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 J;'?(xO3\ - 可对样品进行扫描。 oREZ^pE@ - 动态范围： 13个数量级。 _.wLQL~y - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 O/ l|\n - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 ;>|:I(l; - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 9k2HP]8=[{ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 mVU(u_ lh - 方便操作的测量及分析软件。 o_os; - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 R}Z"Y xx aI+:rk^ 应用 6}{2W<
~eqX<0hf@ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 9 `J `( - 产品质量检测。 hGD7/qTN - 光学性能分析。 }=7tGqfw - 粗糙度分析。 H6rW b6i uXu'I
Qe]@` Vg QQ：2987619807 :uhvDYp(-
