左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
>'Hx1 ; 系统简介 yjpz_<7a=
5^2TfG9 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 yVYkuO V6*? $o 特征及技术参数 *"T+G*~
TQ-K kH}y - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， \Tkp - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） `M] BhW) - 入射光与探测器可共面或异面。 )7AM3 %z1? - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 :8]6#c6`74 - 可对样品进行扫描。 B5`;MQJ - 动态范围： 13个数量级。 4)nt$fW - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 -'ZxN'*% - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 `]{Psc6_= - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 1eiw3WU; - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 PbN3;c3 - 方便操作的测量及分析软件。 4 (|yD; - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 vJThU$s- e~
BJvZ}Q 应用 7LdzZS0 OM
?(Bl~?zD 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 mATH*[Y - 产品质量检测。 mu>] 9Z W - 光学性能分析。 A:)sg !Lt - 粗糙度分析。 zq=&4afOE +7Rt {C,
A^L?_\e6 QQ：2987619807 f1\7vEE,
