左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
= dyApR:' 系统简介 wL'tGAv
(Yzy;"iAu ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Md9b_&' I<q=l K 特征及技术参数 x<'(b7{U0
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y - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， R6ynL([xh - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） D{&0r.2F - 入射光与探测器可共面或异面。 fI2/v<[ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 5 } 9}4e - 可对样品进行扫描。 '2u( fLq3h - 动态范围： 13个数量级。 #Y3:~dmJ- - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 (o/HLmr@Y - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 c5K@<=?,E - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 } PD]e*z{Z - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 WKf->W - 方便操作的测量及分析软件。 ;- D1n - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 +?[ ,y ffuV158a& 应用 -_bHLoI
(vCMff/ Y1 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 c?qg
i"kS - 产品质量检测。 sp4J%2b - 光学性能分析。 VJ` c/EVIt - 粗糙度分析。 ~c>* 3* oT7=
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