左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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n\ 系统简介 y5" b(nb
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f ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Ptfx F]%H |=R@nn
特征及技术参数 :Q~Rb<']{x
%}T' 3 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， "x;|li3; - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） BU3VXnqT[ - 入射光与探测器可共面或异面。 }6U`/"RfcO - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 pDw^~5P - 可对样品进行扫描。 c34s (>AC - 动态范围： 13个数量级。 N*Is_V\R - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 nSMw 5
- 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 2[^p6s[ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 Y~FN` =O - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 y `)oD0)Fj - 方便操作的测量及分析软件。 ,{tz%\, % - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 E5 >y?N qFqK. u 应用 puv/ +!q
vvWje:H 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 @51!vQwqR - 产品质量检测。 G54,`uz2 - 光学性能分析。 >gj%q$@ - 粗糙度分析。 K<BS%~,I lWiC$
@ V_@r@A QQ：2987619807 0!Zp4>l\Z
