左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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*(#;|m 系统简介 IQS:tL/
Ew=8"V`C ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 _d'x6$Jg XM$HHk}L; 特征及技术参数 aIv>X@U}
}' mBqn - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， _U.D*f<3) - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 3+<}Hm+ - 入射光与探测器可共面或异面。 /.<T^p@\& - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Ocq.<#||H - 可对样品进行扫描。
`5:Wv b>| - 动态范围： 13个数量级。 '*5I5'[ X, - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 1@ )8E`u - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 :t6 w+h
- 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 xq2{0q - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 m
?a&XZ - 方便操作的测量及分析软件。 ?v>!wuiP - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 / #z5bo gv}Esps
R 应用 %pNK ? M+
;^}gC}tq 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ; /fZh:V2 - 产品质量检测。 ,%#FK| - 光学性能分析。 3[E3]]OVa - 粗糙度分析。 6 s{~9 W>Eee?
6.},y<E QQ：2987619807 C`z[25o
