左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
=o5hD, > e 系统简介 4Ly!:GH3T
Y> 7/>x6 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ]54V9l: mNuv>GAb 特征及技术参数 UU A7m$F1
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] - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， -5E%f| U - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） YZmD: P - 入射光与探测器可共面或异面。 IJ=~hBI - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Nf3Kz#!B - 可对样品进行扫描。 .@xwl}o$OL - 动态范围： 13个数量级。 M)-+j{< - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 P'FI'2cN7 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 $TR[SMj - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 #n0P'@d, r - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 @BBqH&<` - 方便操作的测量及分析软件。 Eb#0 -I - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 h05
~ g ! .!qJ% 应用 qwVpGNc45
%n{E/06f 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 s%p(_pB - 产品质量检测。 Gn&)*qCO - 光学性能分析。 &)`A4bf% - 粗糙度分析。 F"9 q Bl~ &@{ Ba~S
B_@> HZ\& QQ：2987619807 A;{8\e
