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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 tnq Zl S  
    {H 3wL  
    任务/系统说明 xg;F};}5$  
    %V(U]sbV  
    tNAmA  
    >=3oe.$)  
    亮点 q%XjJ -s:  
    Q0L1!}w   
    <4I`|D3@  
    z\K-KD{Ad  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) oF s)UR  
     严格分析光栅衍射效率 8]4W@~c  
     考虑入射光的方向分布 ayN[y  
    /5Yl, P  
    说明:光源 NkAu<> G _  
    = jTC+0u  
    fyq %-Tj  
    `mquGk|)  
    说明:光束分束器 7&Ie3[Rm_3  
    ~^o YPd52*  
    k40`,;}9  
    Lv#}Gm  
    说明:检测透镜系统 "}0)~,{x B  
    - P4X@s_;  
    1W7ClT_cQ  
    l4^MYwFR{O  
    说明:微型晶片 _t6 .9CXl  
    g? C<@  
    ~le:4qaX  
    c3O&sa V!  
    说明:检测物镜 o\nFSG kn  
    gi8f)MNP?~  
    (?P\;yDG  
    z AY -Y  
    说明:探测器 _ujhD  
    .gCun_td#  
    WogCt,  
    l^__oam  
    结果:3D光线追迹(只有0级) -hGLGF??  
    >{"E~U  
    :7s2M  
    VrJf g  
    结果:3D光线追迹(所有级) I8\R7s3  
    , ksr%gR+  
    ,oJ$m$(Lj  
    k jx<;##R8  
    结果:光线追迹 =@d->d  
    tjcsT>  
    48.4GwL7  
    @\U] hN?  
    结果:场追迹 Hr*xAx  
    xqv&^,ic  
    VD+v \X_  
    p }3$7CR/  
    结果:线性偏振光的场追迹 IJLuu@kRm,  
    caL \ d  
    (b7',:_U7  
    sLc,Dx"+  
    文档和技术信息 CZkmd  
    352RJC  
    WFvVu3  
    wjHH%y  
    d}@n,3  
    QQ:2987619807 Gf-GDy\{  
     
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