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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 MDl  
    Hc5@ gN  
    任务/系统说明 5JIa?i>B  
    ;:8_H0X'K  
    /|`;|0/2  
    zrD$loaW.'  
    亮点 Pm7,Nq)<>n  
    < yE(p  
    "4&HxD8_ih  
    lmQ!q>N  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) j#3}nJB%#i  
     严格分析光栅衍射效率 W446;)?5  
     考虑入射光的方向分布 M+ 8!#n  
    OT{qb!eYI  
    说明:光源 9%> H}7=  
    L8T T54fM  
    9 qqy(H  
    ol:,02E&  
    说明:光束分束器 TW:vL~L  
    v^HDR 3I  
    \02j~r`o  
    /vD5C  
    说明:检测透镜系统 Ajs<a(,6  
    8y/YX  
    #W~5M ?+  
    f/eT4y  
    说明:微型晶片 lk2F]@_kJH  
    0$":W  
    QKE$>G  
    [o*u!2 r  
    说明:检测物镜 &&M-5XD  
    ;]i&AAbj  
    &!N5}N&  
    !})/x~~e  
    说明:探测器 %+Z 0 $Q  
    [I4K`>|Z  
    ]BO{Q+?d2  
    "of(,p   
    结果:3D光线追迹(只有0级) DcQ^V4_  
    /21d%T:}  
    >#$( M5&}-  
    awHfd5nRS  
    结果:3D光线追迹(所有级) C$"jZcm,I  
    69dFd!G\  
    oeDsJ6;  
    1 _fFbb"  
    结果:光线追迹 zv@'x nY]  
    FT[oM<M\Xd  
    ' uo`-Y  
    @7u4v%,wB  
    结果:场追迹 Te[[xhTyw  
    $- =aqUU  
    S82NU2L  
    O.TFV.  
    结果:线性偏振光的场追迹 hO;bnt%(  
    DECX18D  
    >h[tHM O  
    %b\xRt[0v7  
    文档和技术信息 +A~lPXAXW  
    g~FB&U4c  
    tborRi)  
    zesEbR)j  
    iN`/pW/JE  
    QQ:2987619807 /D1Bf:'(  
     
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