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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 ^)>( <6  
    NLL"~  
    任务/系统说明 !X-\;3kC0  
    Q NMZR  
    |@JTSz*Or  
    G'/G DN^j  
    亮点 a&8K5Z%0  
    "V]*ov&[  
    lgU!D |v  
    ^w1+b;)  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) f't.?M  
     严格分析光栅衍射效率 o( zez  
     考虑入射光的方向分布 nA,=g'7S  
    d|NW&PG  
    说明:光源 Y%"$v0D  
    lUEbxN  
    IVSC7SBiT  
    a pa&'%7  
    说明:光束分束器 9#:nlu9  
    M+ %O-B  
    WkA47+DsV  
    ~+4lmslR  
    说明:检测透镜系统 V[/9?5pM  
    NzQvciJ@"  
    9S]pC?N]E  
    qK%N{ro[{?  
    说明:微型晶片 O pu*i  
    }=bzUA`C  
    [#gm[@d,  
    ,nteIR'??  
    说明:检测物镜 'W_NRt:  
    $GRwk>N  
    -1Li&K7  
    tB>!1}v  
    说明:探测器 ^;PjO|mD Z  
    Q*#Lr4cm{  
    )m7%cyfC  
    Cu#n5SF*  
    结果:3D光线追迹(只有0级) aF?_V!#cT  
    Q"FN"uQ}x  
    Jl\xE`-7  
    ;F @Sz/  
    结果:3D光线追迹(所有级) 0<`qz |_h  
    jV*10kM<  
    8`+=~S  
    cOP'ql{"  
    结果:光线追迹 &qXobJRM  
    AJi+JO-  
    ?Sh]kJ O  
    -r cEG!  
    结果:场追迹 fU$Jh/#":  
    &{8:XJe*,%  
    Fc`IRPW<  
    n+=qT$w)  
    结果:线性偏振光的场追迹 Xf&YcHo  
    eWv:wNouk  
    ]}/Rl}_  
    G$Mf(S'f  
    文档和技术信息 yGtTD9j  
    L3I$ K+c  
    :& Dv!z  
    kBk>1jn"  
    xwD`R *  
    QQ:2987619807 .S,E=  
     
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