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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 _Qv4;a  
    <,m}TTq  
    任务/系统说明 J(Bn  n  
    A#T;Gi  
    @t_<oOI2  
    F?UL0Q|uv  
    亮点 M?,;TJ7Gd  
    I0Vm^\8  
    { Z|C  
    zmdOL9"a  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) +G?3j,a\  
     严格分析光栅衍射效率 .N%$I6w  
     考虑入射光的方向分布 `p!.K9r7   
    h.67] U7m  
    说明:光源 \UXQy{Ex  
    L9x,G!  
    (vQShe\  
    (F @IUbnl  
    说明:光束分束器 7B'0(70  
    j#-74{Y$ J  
    9Vp$A$7M  
    o:?IT/>  
    说明:检测透镜系统 ddw!FH2W (  
    giI9-C  
    C4b3ZcD2  
    1f}Dza9  
    说明:微型晶片 V482V#BP  
    }+SnY8A=KZ  
    [ P 8e=;  
    c0tv!PSw  
    说明:检测物镜 W] RxRdY6[  
    f1Rm9``  
    Z!*Wn`d-k  
    9;:Lf  
    说明:探测器 ?A]:`l_"  
    ,\Cy'TSz  
    `AYHCn  
    S:Hg =|R  
    结果:3D光线追迹(只有0级) }APf^Ry  
    u\6:Txqq  
    `TAhW  
    .rwZ`MP  
    结果:3D光线追迹(所有级) 6}[W%S]8  
    ?:UDK?  
    ETYw  
    ,KZ_#9[>  
    结果:光线追迹 ;hRo} +\l  
    1 ,Y-_e)  
    L> cTI2NB.  
    ZVeY`o(uE  
    结果:场追迹 ZU/6#pb  
    [0  3Aej  
    =EFF2M`F  
    3. Kh  
    结果:线性偏振光的场追迹 O"^KX5  
    5r@x$*>e  
    I9H+$Wjd  
    c}lUP(Ss  
    文档和技术信息 vWwp'q  
    waldLb>7D  
    1)H+iN|im/  
    C}#JvNyQ  
    )V} t(>V  
    QQ:2987619807 zuXJf+]  
     
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