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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 _l`s}yC  
    nj7wc9z4  
    任务/系统说明 ?}N@bsl08w  
    qGE?[\t[6  
    H nRd  
    Ng6(2Wt0e  
    亮点 GYD`  
    88dq8T4  
    0ang^v;q  
    &DMKZMj<Q*  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) Daa2.*  
     严格分析光栅衍射效率 .Jt&6N  
     考虑入射光的方向分布 S)@95pb  
    O1.a=O  
    说明:光源 S >PTD@  
    uM8YY[b  
    CL^MIcq?  
    WH.5vrY Z  
    说明:光束分束器 bBQ1 ~ R  
    |/?)u$U<  
    TB]B l.  
    QOECpk-  
    说明:检测透镜系统 ;P-xKRU!Xx  
    QES[/i +  
    p7"o:YSQ  
    U20G{%%  
    说明:微型晶片 JNzNK.E!m-  
    rurC! -  
    UGy~Ecv  
    EHT5Gf  
    说明:检测物镜 W*q[f!@  
    !O=J8;oLk  
    bF88F_  
    '"H'#%RU  
    说明:探测器 H1PW/AW  
    ^X%{]b K  
    M]?#]3XBNo  
    ! K~PH  
    结果:3D光线追迹(只有0级) zMT0ToG  
    Nb[z+V{=  
    "}i\" x;s  
    ~M 6^%  
    结果:3D光线追迹(所有级) 93|u. @lEy  
     Efsfuv  
    *`:zSnu  
    nn@"68]g  
    结果:光线追迹 T!uK _  
    l>RW&C&T  
    & p 1Et  
    a;eV&~  
    结果:场追迹 nT0FonK>  
    |IqQ%;H  
    &L,zh{Mp  
    bz[+g,e2oA  
    结果:线性偏振光的场追迹 3QDz0ct  
    8>Hnv]p  
    uE~? 2G  
    !<3(+H  
    文档和技术信息 1(`>9t02/?  
    BzL>,um  
    #/  1  
    M0<gea\ =  
    {~a=aOS  
    QQ:2987619807 Akf?BB3bC  
     
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