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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 n?P 5pJ  
    FbCZV3Y  
    任务/系统说明 {Y* ]Qc  
    uVuToMCp  
    {DXZ}7w:v  
    B[0,\>  
    亮点 [P&,}o)+E0  
    hRy }G'0  
    @Z=|$*9  
    t zW<&^  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) -g[*wN8  
     严格分析光栅衍射效率 /o1)ZC$  
     考虑入射光的方向分布 g7U:A0Z  
    :5cu,&<Gv  
    说明:光源 4gv XJK-  
    SJ[@fUxO)  
    Bc|x:#`C\{  
    w)m0Z4*  
    说明:光束分束器 ;~@PYIp  
    j3[OY  
    >KClH'R2  
    <9k}CXv2PK  
    说明:检测透镜系统 'Rh>w=wB'  
    hTtp-e`   
    @H# kvYWmn  
    ep}/dBg  
    说明:微型晶片 BL5  
    -R$FJb Id  
    !Ub?eJp  
    &G,o guo  
    说明:检测物镜 ~Yz/t  
    uF3p1by  
    zl#&Qm4Ot  
    Z8dN0AqZ  
    说明:探测器 POg0=32  
    &N7:k+E  
    F+$@3[Q`N  
    5Kw?SRFH/  
    结果:3D光线追迹(只有0级) --%2=.X=  
    T17LYHIT  
    8`~3MsE"  
    5NF&LM;i(  
    结果:3D光线追迹(所有级) oplA'Jgnv  
    So 6cm|{  
    KW6" +,Th  
    Y 6Qb_X:  
    结果:光线追迹 3N%Ev o  
    5GFnfc}  
     ~M^7qO  
    Q fyERa\rb  
    结果:场追迹 KP7RrgOan&  
    DPxu3,Y  
    &?`&X=Q  
    |M/ \'pOe  
    结果:线性偏振光的场追迹 lg  
    WAa1H60VkS  
    :=7'1H  
    #DRt Mrfat  
    文档和技术信息 c^WBB$v  
    ulSTR f  
    g)D}p@>m  
    ZznWs+  
    _vLT!y  
    QQ:2987619807 >(ww6vk2  
     
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