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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 &z8@  rk|  
    s6%%/|  
    任务/系统说明 c#|!^gjf  
    PsMoH/+"  
    uV`r_P  
    v^0D  
    亮点 f/&gR5  
    `WGT`A"  
    [U.3rcT"N  
    o( Yfnnuy  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) d}j%. JJK  
     严格分析光栅衍射效率 v8W.84e-  
     考虑入射光的方向分布 ;D&FZ|`(u  
    EE(1;] d-  
    说明:光源 ?8X;F"Ba  
    +KgLe>-}  
    pSvRyb.K  
    Md mS  
    说明:光束分束器 FJomUVR.  
    4qXO8T#~J=  
    tSran  
    #kjN!S*=  
    说明:检测透镜系统 pyYm<dn  
    *UhYX)J  
    +XCLdf}dC  
    w$8Su:g=  
    说明:微型晶片 ?-%Q[W  
    jI %v[]V  
    }7&.FV "  
    kN_ i0~y@-  
    说明:检测物镜 gpDH_!K  
    PKFjM~J  
    c u*8,*FU  
    s :ig;zb  
    说明:探测器 k%Dpy2uH  
    67/JsL  
    x`~YTOfYk  
      @a2n{  
    结果:3D光线追迹(只有0级) s)C5u;3!  
    {~q"Y]?  
    MIma:N_c  
    `Cq&;-u  
    结果:3D光线追迹(所有级) EZnXS"z  
    =f0qih5.4  
    z,dh?%H>X  
    M|8vP53=q  
    结果:光线追迹 55Z)*JMv  
    BV)o F2b:  
    =2v/f_  
    j"=F\S&!  
    结果:场追迹 &JMp)zaI[  
    z5.Uv/n\1  
    X<G"Ga L  
    SFqY*:svOw  
    结果:线性偏振光的场追迹 h [*/Tnr  
    J]G] <)  
    x6yYx_  
    )&/ecx"2Q  
    文档和技术信息 |pLx,#n  
    >,%or cN  
    !UHWCJ< <w  
    ((0nJJjz  
    PY81MTv0;  
    QQ:2987619807 EPeKg{w  
     
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