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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 QO(F%&v++  
    U].]K   
    任务/系统说明 fM4B.45j  
    62qjU<Z  
    _7<{+Zzm  
    FZj>N(  
    亮点 ~~h#2SX  
    3S7"P$q  
    >a<1J(c  
     3}8o 9  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) e@ZM&iR  
     严格分析光栅衍射效率 Tgr,1) T  
     考虑入射光的方向分布 2icQ (H;  
    U\tx{CsSz  
    说明:光源 0zB[seyE  
    O.(2  
    tj[E!  
    r.\L@Y<  
    说明:光束分束器 jTcv&`fAz  
    -m%`Di!E  
    OpEH4X.Z  
    Y -a   
    说明:检测透镜系统 h7UNmwj  
    HT.*r6Y>g  
    MkPQ@so  
    &b tI#  
    说明:微型晶片 =zcvR {Dkp  
    3>aEP5  
    XAU%B-l:  
    PU/<7P*  
    说明:检测物镜 gYc]z5`  
    -PE_qZ^  
    ZhA_d#qH  
    ]$[sfPKA  
    说明:探测器 S-7&$n  
    .PUp3X-  
    j fY7ich  
    /q]rA  
    结果:3D光线追迹(只有0级) 2H)4}5H  
    !B}9gT  
    {}$7Bp  
    6`e7|ilh6  
    结果:3D光线追迹(所有级) *7jz(iX  
    5FoZ$I  
    WK>|IgK  
    VWvSt C  
    结果:光线追迹 d}[cX9U/  
    -SrZ^  
    ;mG*Rad  
    rR> X<  
    结果:场追迹 3 c=kYcj  
    2M-[x"\1/  
    20|`jxp  
    xV)[C )6  
    结果:线性偏振光的场追迹 AAevN3a#nI  
    :hX[8u  
    \g39>;iR  
    <h7cQ  
    文档和技术信息 9Rnypzds  
    {_O!mI*  
    go uU  
    J +u}uN@  
    MY^{[ #Q  
    QQ:2987619807 v 3I^81  
     
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