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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 CS7b3p!I  
    IT| h;NUG  
    任务/系统说明 (S~kyU!)0  
    ^kKLi  
    ;@wa\H[3v2  
    WH:dcU   
    亮点 0D(8-H  
    x?Abk  
    iWs6 !s!  
     FA+HR  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) #a e@VedM  
     严格分析光栅衍射效率 T}&A-V$  
     考虑入射光的方向分布 74Jx\(d  
    16iTE-J_  
    说明:光源 4uXGp sL  
    $*C }iJsF  
    Kxsd@^E  
    gP% <<yl  
    说明:光束分束器 :zHSy&i`  
    JtFq/&{i  
    9q`Ewj R  
    \.i7( J]  
    说明:检测透镜系统 b~gq8,Fatb  
    |]&3*%b@  
    )s!A\a`vEd  
    REh"/d  
    说明:微型晶片 *~PB  
    /TMVPnvz.  
    $u<;X^  
    G*=HjLmZg  
    说明:检测物镜 V IzIl\<aM  
    T<uX[BO-a  
    ~VsN\!G  
    V^s, 3C  
    说明:探测器 rEa(1(I  
    MXA?rjd0  
    6()Jx%  
    (Y~/9a4X  
    结果:3D光线追迹(只有0级) #wyceEa  
    1I2n dt  
    LQF;T7VKS)  
    MHpGG00,  
    结果:3D光线追迹(所有级) `{#""I^_  
    =v3o)lU  
    !zK"y[V  
    gW~YB2 $  
    结果:光线追迹 _{o 3y"DZ  
    (Aw@}!  
    k)+{Y v*  
    8(? &=>@  
    结果:场追迹 )v(rEY  
    (cVIjo+::  
    )a^&7  
    Aw7N'0K9UN  
    结果:线性偏振光的场追迹 %s}{5Qcl/  
    }oD^tU IK  
    =sW K;`  
    T$kuv`?  
    文档和技术信息 ^qL<=UC.  
    BD"Dzq  
    X}GX6qAdt  
    P*k n}:  
    e\}@w1  
    QQ:2987619807 kiF}+,z"  
     
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