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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 >$R-:>~zN  
     (/@o7&>*50  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 3>L1}zyM]  
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    1. 案例 ?[m5|ty#  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 :"QRB#EC%  
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    1. 系统构建模块 &Q&$J )0  
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    2. 组件连接器 OmoY] 8N}  
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    几何光学仿真 )L#I#%  
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    以光线追迹 MaMs(  
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    1. 结果：光线追迹 P}VD}lEyO  
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    快速物理光学仿真 l|uN-{ w  
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    以场追迹 -7pZRnv  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 V'6%G:?0a  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 =E,*8O]  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 ]0O pd9  
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    文件信息 `Y(/G"]  
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    QQ：2987619807 Qp< 6qM35  
     
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