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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 '#,e @v  
     "W &:j:o  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。  /i-xX*  
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    1. 案例 eq@am(#&kY  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 M#\  <  
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    1. 系统构建模块 c-4m8Kg?L  
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    2. 组件连接器 F`Dg*O  
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    几何光学仿真 7BL |x  
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    以光线追迹 v2 29H<  
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    1. 结果：光线追迹 ./'~];&  
    ==QWwPpA  
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          ,O:EX0  
    快速物理光学仿真 s? QVX~S"  
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    以场追迹 ;{<aA 5  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 "z rA``  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 yXJ]U \ %  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 R/^@cA  
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    文件信息 ~9Z h,p ;  
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    QQ：2987619807 qE )Y}oN  
     
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