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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 !CMN/=  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 sNZPv^c  
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    1. 案例 (@#Lk"B  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 AdYQhF##  
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    1. 系统构建模块 >5gzo6j/  
    X'F$K!o*,:  
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    2. 组件连接器 )/pPY  
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    几何光学仿真 #3$|PM7,_  
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    以光线追迹 >k jJq]A2  
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    1. 结果：光线追迹 t8+93,*B  
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    ,5?MRqCM  
          `j$d(+Gv  
    快速物理光学仿真 .WPqK >79|  
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    以场追迹 iTvCkb48m  
     \* #4  
    1. NA=1.4时的光栅成像 =>J#_Pprn  
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    # 0 (\s@r.  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 Uwk|M?94  
       [<;2C  
    "8]170  
    Ye6O!,R  
    3. NA=0.5时的光栅成像 "F}Ip&]hAG  
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    =R"tnjR  
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    文件信息 [)pT{QA  
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    Qa%SvA@R  
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    QQ：2987619807  B" z5j  
     
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