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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 'i#m%D`dt  
     uSh!A  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 DA;,)A&=Q  
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    1. 案例 =>Ss:SGjT  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 Hg$t,\j  
     /;>U0~K  
    1. 系统构建模块 ClZ:#uMbN  
    v%N/mL+5L  
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    |L|)r)t  
    2. 组件连接器 baJ(Iy$XT  
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          T 1'8<pJ^  
    几何光学仿真 ZuF"GNUC  
     HRP4"#9R  
    以光线追迹 )9LlM2+y  
     P>q"P1&{  
    1. 结果：光线追迹 ?z,^QjQ}  
    @ n<y[WA  
    Z +%Uwj  
          c *<"&  
    快速物理光学仿真 qIEe7;DO  
     : V16bRpjL  
    以场追迹 m2&"}bI{  
     5cLq6[uO  
    1. NA=1.4时的光栅成像 Y JzKE7%CO  
    *a }NRf}W  
     bMWL^*I  
    $v|/*1S  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 I{>U7i 5  
       (Ic{C5'  
    Ut"~I)S{LT  
    $x_6 .AOZ,  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Lbb{z  
       dMkDNaH,  
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     7+^9"k7  
    文件信息 ma4Pmk  
    Q.SLiI  
     V/%tFd1  
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     /JaCbT?*T  
    QQ：2987619807 ^H]q[XFR  
     
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