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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 XS^du{ai  
     JW2f 6!b  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 j1K~zG  
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    1. 案例 =*+f2  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 SnvT !ca  
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    1. 系统构建模块 ix?Z:pIS0  
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     UN;U+5,t  
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    2. 组件连接器 -\ew,y  
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    几何光学仿真 7+[L6q/K  
     ]:?hU^H]<  
    以光线追迹 6BQq|:U  
     ?h#F& y  
    1. 结果：光线追迹 !@ AnwV]  
    TDg<&ND3  
    E J6|y'  
          iQCs 8hIR  
    快速物理光学仿真 f!GFRMM1  
     2#UVpgX?  
    以场追迹 %^"i\- *|S  
     1O)m(0tb[  
    1. NA=1.4时的光栅成像 76c:* bZ  
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     -&v0JvTJ9j  
    $\20Vgu<  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 "Nq5FcS9  
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    EWVn*xl?  
    3. NA=0.5时的光栅成像 "oR%0pU*  
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    文件信息 !|"LAr9u  
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    QQ：2987619807 MP Q?Q]'  
     
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