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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 Gyo[C98  
     Zp5;=8wa;  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 2|="!c8K  
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    1. 案例 7Jm&z/  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 cvoE4&m!  
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    1. 系统构建模块 p]/qf \E  
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    2. 组件连接器 X5s.F%Np!  
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          !v^{n+  
    几何光学仿真 +Ce[OG.  
     i}fAjS:W  
    以光线追迹 0?DD!H)&w  
     Dt1v`T~=?  
    1. 结果：光线追迹 N^G $:GC  
    "6[a%f#Q  
    $P=B66t ^  
          9\yGv  
    快速物理光学仿真 KKrLF?rc  
     2(SU# /,  
    以场追迹 'VgdQp$L$  
     Vrwy+o>:X  
    1. NA=1.4时的光栅成像 U8f!yXF'  
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     ,F&TSzH[@v  
    .f1  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 R?%J   
       E_fH,YJ?9  
    {P'_s ]B)  
    Yf=an`"  
    3. NA=0.5时的光栅成像 {}sF ?wZf  
       uX.^zg]}%  
    zmA]@'j  
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    文件信息 IE)$ .%q;)  
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    QQ：2987619807 &dH[lB  
     
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