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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 >|/NDF=\s  
     B'lWs;  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 KArR.o }  
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    1. 案例 ^j0Mu.+_  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 "<Dn%r  
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    1. 系统构建模块 &<_*yl p  
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    2. 组件连接器 (Ub=sC  
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    几何光学仿真 9gZMfP  
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    以光线追迹 xdd7OSc0{  
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    1. 结果：光线追迹 h q6B pE  
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    快速物理光学仿真 %[u6<  
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    以场追迹 yM}}mypS  
     GbFLu`Iu  
    1. NA=1.4时的光栅成像 W2D^%;mw  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 I= G%r/3  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 %<lfe<;^t  
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    QQ：2987619807 C)~YWx@v  
     
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