切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 1830阅读
    • 0回复

    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6421
    光币
    26250
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 ,au64sH  
     ]n _-  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 xGk@BA=0<  
    >BrxJw#M  
    8!VjXj"  
     :0CR=]WM  
    1. 案例 ~XsS00TL`G  
    { )'D<:T  
     c~5#)AXMT  
      6zRJ5uI,/  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 p$?c>lim  
     mIFS/C  
    1. 系统构建模块 ?OZbns~  
    @Sq=#f/=  
     MeQ(,irr^  
    r?{Vqephz  
    2. 组件连接器 B 0 K2Uw  
    D8m?`^Zz  
    \CUxGyu  
          x^+ C[%  
    几何光学仿真 pr;<n\Y{  
     K[~Wj8W0  
    以光线追迹 @ RTQJ+ms  
     XhWMvme  
    1. 结果：光线追迹 mH;Z_ME"  
    g_0"T}09(  
    X-:Ni_O\ty  
          Mky$#SI11  
    快速物理光学仿真 zesEbR)j  
     <Ks?g=K-  
    以场追迹 n  'P:  
     )6bxP&k  
    1. NA=1.4时的光栅成像 h,FP,w;G  
    K8|6r|x  
     ?aOR ^ K  
    _9!Ru!u~  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 "Y(S G  
       aI8wy-3I  
    `c:'il?  
    qhK;#<#  
    3. NA=0.5时的光栅成像 w2+RX-6Ie  
       M8KfC!  
    ;lYO)Z`3\  
     !PUhdW  
    文件信息 ei\X/Z*q%P  
    8^dGI9N  
     et9 c<'  
    OR?8F5o?p  
     6O tv[8^}  
    QQ：2987619807 &cpRB&bf  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表