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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 =r 9r~SR#  
     /.1. MssQM  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 k~.&j"K  
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    1. 案例 ?LK 2g  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 8|%^3O 0X  
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    1. 系统构建模块 c>"cX&  
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    2. 组件连接器 Z\}K{#   
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    几何光学仿真 Y!J>U  
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    以光线追迹 ,\2:/>2  
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    1. 结果：光线追迹 >K9#3 4hP  
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    快速物理光学仿真 B/~%h|  
     Sf5X3,Uw  
    以场追迹 #jA[9gWI  
     GaX[C<Wt  
    1. NA=1.4时的光栅成像 J:&[ 59  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 b#7{{@H  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 y~()|L[  
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    文件信息 t%F0:SH  
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    QQ：2987619807 yj^+ G  
     
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