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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 4VSIE"8e  
     E}mnGe  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 A1Mr  
    `4}zB#3  
    vLJ<_&6  
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    1. 案例 8 wQV^G  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 <_8\}!  
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    1. 系统构建模块 I<z /Y?  
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     -7TT6+H)  
    1\{0z3P  
    2. 组件连接器 b\"JXfw  
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    几何光学仿真 .@JXV $Z  
     E {4/$}  
    以光线追迹 5G'X\iR  
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    1. 结果：光线追迹 5[]7baO)h1  
    &`Q0&8d5  
    .1 .n{4z>:  
          0XSZ3dY&+  
    快速物理光学仿真 x&+/da-E/5  
     0^*4LM|z  
    以场追迹 3X89mIDr  
     Uc!} D  
    1. NA=1.4时的光栅成像 fBS;~;l  
    $dFEC}1t  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 X_Is#&6;  
       uXxyw7\W  
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    Dsw(ti`@  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ]Hc `<P  
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     NwIl~FNK  
    文件信息 c>:}~.~T  
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     tcSn`+Bu_`  
    QQ：2987619807 (\e,,C%;  
     
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