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分析高数值孔径物镜的聚焦
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楼主
发表于: 2021-06-28
摘要
QzV%m0
C$`^(?iO/
高数值孔径
物镜
广泛用于
光学
光刻、
显微镜
等。因此,在聚焦
模拟
中考虑光的矢量性质是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持这种
镜头
的
光线
和光场追迹分析。 通过光场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。 照
相机
探测器
和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,并且可以深入了解矢量效应。
<l$ vnq
w,;ox2
5ih5=qX
O5A]{W
建模任务
E[Ao*
F[~~fm_
L#`X;:
m%)S<L7 l
入射平面波
e@g=wN"@
波长
2.08 nm
p}|<EL}Z9
光斑直径: 3mm
3PaMq6Ca
沿x方向线偏振
6Q}>=R^h
->J5|c#
如何进行整个
系统
的光线追迹分析?
e}2[g
如何计算包含矢量效应的焦点的强度分布?
K,H xe;-
+D M,+{}
概览
#[y2nK3zF
•样品系统预设为包含高数值孔径物镜。
C0H@
•接下来,我们将演示如何按照VirtualLab中推荐的工作流程对样本系统进行模拟。
<E7y:%L[Go
1A N)%
7}vx]p2
光线追迹模拟
:<xf'.
•首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为模拟引擎。
DU:+D}vl
•点击Go!
&IkHP/
•获得3D光线追迹结果。
qmq#(%Z <W
VaTA|=[;
0D}k ^W
c)SQ@B@q
光线追迹模拟
A 1x
•然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为模拟引擎。
N7Kkz /
•单击Go!
/B5rWJ2AS
•结果,获得点图(2D光线追迹结果)。
+A2}@k
5[H1nC @C
py9`q7F
HVNX"`]"
光场追迹模拟
gflO0$i
•切换到“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为模拟引擎。
6V-JyTcxGI
•单击Go!
&}FWpo!
|6~ Kin
.wkW<F7
zO 6Sl[)
光场追迹结果(照相机探测器)
%`]fZr A]#
h]k1vp)Q y
•上图仅显示Ex和Ey场分量的强度。
+e&Q<q!,q
•下图通过整合Ex、Ey和Ez分量显示强度:由于高数值孔径情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。
>S:+&VN`M
__ G=xf
]{= qdgJ
#6nuiSF
光场追迹结果(电磁场探测器)
VQn]"G(`
,ydn]0SS
•通过使用电磁场探测器获得所有电磁场分量。
/^, /o
;i&t|5y~
I6[=tB
*NQsD C.J^
=${ImMwj
u(4o#m
@|@6pXR.
qino:_g
[.>g.p,;
pY(S]i
文件信息
mlbSs_LT^
v\Zq=,+
{Ty?OZ
1f0maN
'#CYw=S+
saR9_ ux
QQ:2987619807
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