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摘要 y,vrMWDy dpI! {'"M 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 hYU4%"X Bq#B+JwX IRB BLXv7\ Tn(c%ytN 建模任务 nM6/c '7/c7m/$X< &{H LYxh 概述 dI$M9; m<| * •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 56^#x •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ?cD2EX%( cuo'V*nWQ ])uhm)U@ I 7s}{pG 光线追迹仿真 O2C&XeB:4 Vrx3%_NkQ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 4]%v%64U •单击go! qQx5n •获得了3D光线追迹结果。 Z2hIoCT |sklY0?l( ?_Y2'O 6=i@ttAK 光线追迹仿真 a C< 2C_/T8 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 7\sR f/ •单击go! Mg76v<mv< •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 i2(lqhaP "Zq)y_1 .0f6b |}^BF%8V: 场追迹仿真 ,CA3Q.y>| %$H~ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 B gB]M3Il •单击go! 0)T`&u3! leomm+f^ {m2lVzK |B/A)(c
yV 场追迹仿真(相机探测器) b Q6<R4 `'
"125T •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >@wyiBU •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 B2DWSp-8* VwxLElV $wx)/t< 1pT-PO3= 场追迹仿真(电磁场探测器) {X'D07 q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 d0MF\yxh FqpUw<]6s 1hnw+T<<W 3'D<'S}[ 场追迹仿真(电磁场探测器) KoL3CA"N c[QXc9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 h8me.=S& g(Dr/D -p\uW0XA +{F2hEYP 文件信息 tjIT4 Hp!c\z; r p^Gk \uTy\KA ohPCYt QQ:2987619807 Ug1n4X3FKn
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