-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-17
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 E{?L= ^cU xBt4~q;#sE
T[mw}%3<v _;%.1H{N 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "
-<}C%C {m>~` 建模任务 )62q|c9F +EQpD.
fjF!>Dy
Rqt[D @;m 由于组件倾斜引起的干涉条纹 >zN"
z) ~&vA_/M
yDDghW'\WU [Ja(ArO3|[ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 m.|qVN Bl:{p>-q
O>kXysM v> &3+1D1"y/ 文件信息 P((S2"D<4 `mh-pBVD1
zLE>kK ]wJ}-#Kx m.;{ 8AM%f QQ:2987619807 cS. 7\0$
|