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摘要 3,^. TOw;P:-
C17$qdV/ |crm{]7X 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 %V|n2/O
Y {NUI8AL46A 建模任务 1!W'0LPM BFswqp:
T!X`"rI UW'@3#<? 由于组件倾斜引起的干涉条纹 })umg8s S0w:R:q}L
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Iaz C;I:?4 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ows3%
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#<DS-^W! fL~@v-l#~ 文件信息 !W/"Z!k KnC:hus
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G QQ:2987619807 PW+B&7{
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