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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 /hx|KC&:e  
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    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 znNJ?  
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    建模任务 Gw\-e;,  
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    v5aHe_?lp  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 $)V_oQSqn  
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    m^6& !`CD  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 3,x|w  
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     #n9:8BKf  
    38I.1p9  
    文件信息 7U:-zfq  
    %Ls5:Z=  
     9GH11B_A  
    Xm#E99  
     YlF<S49loC  
    QQ：2987619807 @Ido6Z7  
     
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