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摘要 nB :i G VE/m|3%t 高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 L">jSZW[[ z.)*/HGJm !
,H6.IH;S HL$7Ou 建模任务 ~X<$l+5 wfu`(4 dikX_ Q>D 概观 K+L9cv4 |* n[i:$! , 7iv g3* 光线追迹仿真 w&es N$2 k+i0@G'C( •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 A4d3hF~ l` Dh#5-Kf% •点击Go! ei1;@k/ •获得3D光线追迹结果。 4~oRcO8!Y %Rr_fSoV TL$w~dY /&@q*L 光线追迹仿真 {H9g&pfv <pG 4g (+zU!9}I1 •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 "5N$u(: b •单击Go! bh\2&]Di/ •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 Iv9U4 =mcQe^M `GY]JVW `W1TqA 场追迹仿真 Sc}Rs /=#~8 ,}>b\(Lk •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 z([HGq5 •单击Go! !VudZ]Sg O\]{6+$fm! QJx<1# ehe#"exCB 场追迹结果(摄像机探测器) ,ag*
/ M[iWWCX T| (w-)mv •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 D=5%lL •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 Y|/,*,u+ Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 j#p3<V S4 DI-CC[ p>T g*4^HbVxt 场追迹结果(电磁场探测器) 81I9xqvSd~ \l5G X6r<#n|l •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 G-vkkNj%e g~=-
,j| j/ARTaO1]" 文件信息 n7n-uc fP( n 3Q 6HVX4Z#VH H:z<]Rc Z{F^qwne QQ:2987619807 ~Hx>yn94e
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