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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 xwTN\7f>  
     )z2Tm4>iql  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 D!TS/J1S;u  
    ]\ sBl  
    建模任务 FTtYzKX(bv  
    >9uDY+70I3  
    9~ K 1+%!  
    元件倾斜引起的干涉条纹 +>44'M^Z|(  
    zRL[.O9  
    m`I6gnLj  
    元件移位引起的干涉条纹 J+Q ;'J  
    QVb @/  
    -81usu&NH  
    文件信息 UccnQZ7/I  
     8`U5/!6fu  
    TL1pv l  
    QQ：2987619807
     
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