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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 ?PSm) ~ Oa  
    s&M6DFlA  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ~^IS{1  
    PS@` =Z  
    建模任务 8sg8gBt  
    O.1Z3~r-N  
    e0*',  
    元件倾斜引起的干涉条纹 :*6tbUp  
    D C mNxN  
    g{f1JTJ7  
    元件移位引起的干涉条纹 6$b"tdP  
    [cru+c+O:  
    ."PR Z,  
    文件信息 ALwkX"AN  
    IX^k<Jqr  
    M&y!w   
    QQ:2987619807
     
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