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摘要 ?PSm)
~Oa s&M6DFlA 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ~^IS{1 PS@`
=Z 建模任务 8sg8gBt O.1Z3~r-N e0*', 元件倾斜引起的干涉条纹 :*6tbUp DCmNxN g{f1JTJ7 元件移位引起的干涉条纹 6$b"tdP [cru+c+O: ."PR Z, 文件信息 ALwkX"AN IX^k<Jqr M&y!w
QQ:2987619807
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