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摘要 :x{NBvUIc &nkW1Ner9 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ~ !
3I2 B}:(za& 建模任务 ? glSC$b e~@[18 6morum 元件倾斜引起的干涉条纹 _$f9]bab =p?WBZT|: SWQ5fcPu 元件移位引起的干涉条纹 *@Y3oh}S ->O2I? !n$tr 文件信息 I8<,U!$ <]4i`6{v pN9A{v(
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