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摘要 F0ivL` r0$9c 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 PS<tS_. _~#C $-T 建模任务 _ L:w;Oy9T ThQEQ6y FLnAN; 元件倾斜引起的干涉条纹 v=Bh
A9[ ^[\53\R~ I(kIHjV| 元件移位引起的干涉条纹 [Oy2&C h}:5hi Jw LAVt/TcZS| 文件信息 2mp>Mn~K^ 7;s0m0<%~ Ky~~Cd$
QQ:2987619807
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