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摘要 {Z;t ^:s# BfTcI) 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Ft JjY@# 8
(jUe 建模任务 ({}( qm donw(_= 4IdT' 元件倾斜引起的干涉条纹 he3SR@\T xh@-g|+g g\oSG) 元件移位引起的干涉条纹 {[Q0qi = hmbj*8 }}{!u0N},V 文件信息 M<?Q4a'Q ;+ "f iP~,n8W
QQ:2987619807
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