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摘要 N&x WHFn]C rKy-u 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 V'Z&>6Z I4o=6ts
MKVfy:g%So F; MF:;mM 建模任务 Xew1LPI Hlt8al3 !0!U01SWa 概述 MR?*GI's 'Ffy8z{&3 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 m<FWv2)^ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 }:RT,< nI` f_sp
!e:iB7< &sZ9$s:(^ 光线追迹仿真 OD?y eC+"mhB •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 EI=Naq •单击go! tL={ y* •获得了3D光线追迹结果。 't0+:o">: f.aB?\"f6
Z#OhYm+y z_:eM7]jv 光线追迹仿真 }XGMa?WR {uaZ<4N. •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Yo~LckFF •单击go! rP^TN^bd| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 G%P>Ag VxkCK02k
PcHSm/d0e u0bfX,e2U 场追迹仿真 BR& Aq X$7Oo^1; •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
N|!MO{sB •单击go! v"P&`1=T W_[|X}lWP KGV.S @uI? 场追迹仿真(相机探测器) w(76H^e Q0zW ]a •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Jv_.itc •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 fm(mO% DA<F{n.Z:
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-]sp] b]!9eV$ 场追迹仿真(电磁场探测器) q"gqO%Wb| •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 EMVk:Vt] _GVE^yW~z R)0N0gH A6Ghj{~ 场追迹仿真(电磁场探测器) Nls83 W :J^qj AV •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Bk?8zYp wP[xmO-%
2v0!` &?M{ z]^+^c_ 文件信息
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