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摘要 |yQ3H)qB# odj|"ZK 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >Wy@J]Y# qFvtqv2 (obeEH5J Af *^u|# 建模任务 LI(Wu6*Y v\f 41M7D 5z#>>|1># 概述 7?cZ9^z`w j7O7P+DmS •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 pspV~9, •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 =|uX? i' N G?8,&jP~T Z&/;6[ 光线追迹仿真 |4wVWJ7 +h[$\_y •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 JNk
]$ xz •单击go! TQbhK^] •获得了3D光线追迹结果。 HiVF<tN ~M43#E[oOF qb
"H&)aHw 0y|}}92: 光线追迹仿真 l<^#@S H f'R^MX2 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 }U+gJkY2 •单击go! QbpRSdxy`$ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 1kTJMtZG~ 7uxy<#Ar P1H`NOC $NJi]g|<3 场追迹仿真 %VSST?aUvX UGr7,+N&w •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7c<2oTN' •单击go! J%D'Xlb j3z&0sc2(0 >l'QX( m5f/vb4l 场追迹仿真(相机探测器) ugucq},[ pD.7ib^ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 +Bc/@.Q' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 E}\^GNT Wu:vO2aw8 #).om*Xh hGD7/qTN 场追迹仿真(电磁场探测器) }=7tGqfw •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 H6rWb6i .U9NQwd [-1Nn} :uhvDYp(- 场追迹仿真(电磁场探测器) luLm:NWUM #Rjm3#gc •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 vF3>nN(] >RE&>T^8 |~rDEv3 T"8>6a@}E 文件信息 <hQ@]2w$ &l{yEWA}g b"x;i\Z0% Xp._B4g 更多阅读 j08|zUe )d0&iE`@ -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer )^g}'V=vIr -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination BP*gnXj e+4p__TmZ @5Ril9J[b QQ:2987619807 ANn{*h
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