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摘要 <Spr6U9p7 gHi~nEH 0
OAqA?Z ^V<J69ny|9 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Ql~#((K PyC;f8n'(
建模任务 W>Mse[6`c oUQGLl!V VLh%XoQx[ pXPqDA 由于组件倾斜引起的干涉条纹 J 16=!q() ,VKQRmd
09 =MTj4VXh" 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 .Lojzx yy1>r }L M8 iEVJ a3O nW\N 文件信息 m!#_CQ: <\, &:< rD0k%-{{ @Pxw hlxa 更多阅读 :v#k&Uh3y - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration #04{(G|~+E - Fizeau Interferometer for Optical Testing Q&u>7_, Du 99F>n[5 M0O>Ljo4RN QQ:2987619807 lir&e
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