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摘要 5glGlD6R (a?Ip)`I
=S,<yQJ Q)>'fZ) 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .Dm{mV@*T ]_?y[@ZP 建模任务 BXY'%8q _a _SqrQ
;Y\,2b, xh c &HoS 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ;[9Is\ m##=iB|;
sXxO{aeev "+&<Q d2 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ;^]A@WN6_ rRYf.~UH@P
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G.8b\E~ (rn x56I$ 更多阅读 4)I#[&f - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Z"Oa5V6[A - Fizeau Interferometer for Optical Testing s 'xmv{| ?miM15XI OWsYE? QQ:2987619807 5g5NTm`=<
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