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摘要 a7q-*%+d5 k-T_,1l{
`2NL'O: }{Lf 4|8 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 xN}P0 &^4W+I{H 建模任务 i<1w*yu R6)p4#|i
.dp~%!"Sn, ~/\;7E{8! 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,I@4)RSAH| @^;WC+\0
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7esG$sVj( w]) bQ7) 文件信息 OV>T}Fq E] t:_v
_:M6~XHo *D,+v!wG9 更多阅读 bR*T}w$< - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Z5-"a?{Y - Fizeau Interferometer for Optical Testing S5v>WI^0h cWp
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