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Macleod,TFCalc
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光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod
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光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod
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发表于: 2021-02-23
Essential Macleod是一套完整的
光学
薄膜分析与设计的
软件
包,它能在任一32位、64位微软窗口环境操作系统下运行(除了Windows RT), 并且具有真正的多文档操作界面;它能满足光学镀膜设计中的各种要求;既可以从头开始设计,也可以
优化
已有的设计;可以模拟设计生产中的误差,也可以导出薄膜的光学常数,是当今市场上最完善的薄膜设计及分析软件。
&]"Z x0t5%
a yYl3
模块:Core模块+5个附加模块
?B+]Ex(\B,
^HhV?Iqg
Core模块
o 9rZ&Q<
oRo[WQla
Macleod核心模块是软件的最低配置,包含设计编辑器,数据、目标编辑器,输入/输出,材料管理,性能计算,优化和综合,和其它软件或硬件的数据交换,导纳轨迹,电场,辅助设计等,是整个软件包的基本构架。
hbdB67,
LpK? C<?x
Core模块功能
BOflhoUX
bMq)[8,N
效能计算
$^e(?Pq
|&"/u7^
Essential Macleod 提供了整组完整的效能计算。除了一般反射和透射计算外,也包括沉积密度、吸收,椭圆
参数
,超快参数 (群组延迟、群组延迟色散、三阶色散)和多光色散,也可以进行色彩计算。公差的计算是分辨设计对微小厚度变化的灵敏度。
xX?9e3(
).)^\
颜色计算
W7W(jMH
w=_q<1a
颜色计算包括色度坐标、显色指数、色纯度、主导波长、相对色温。图形包括色度坐标图、色调、用户自定义图。包括CIE 1931 和 1964 配色函数在内的许多标准
光源
选择是预先定义好的,而用户可以定制你所需要的参数的其它参数。可以根据导入的透射及反射数据计算作为波长函数的颜色参数,也可以作为目标进行优化。
.],:pL9d
-zg 6^f_pW
设计和分析工具
c(b2f-0!4
f AY(ro9Q(
包括导纳图,电场分布,等效折射率,吸收分布,应力,光的散射、特性包络、消偏振边带滤波器设计和诱导透过率。
*(s0X[-
W(}2R>$
提取工具
;Q8`5h
aX,6y1
n & k 提取工具提供了由量测测试薄膜的反射、透射频谱数据以决定薄膜或基底n 与k 的方法。
.sjv"D"
tdHeZv
反演工程
"!Qi$ ]
j.!5&^;u4
主要采用Simplex 局部优化方法,根据已镀膜的设计结构和光谱测试数据(至少一种),来确定其真实膜系结构及其与设计的差别。
e?7y$H-
C);3GPp
公差
IyEfisOK?
"8p<NsU
Essential Macleod 的公差能力允许你探查设计相对于制造误差的灵敏度,可以比较不同的设计以挑选出最优者。
0.S7uH%"
2]y Hxo/6
细化与合成
J`4V\D}n
s)jNP\-
Essential Macleod提供了6个优化和2个合成工具,膜层可以锁定或关联(膜层关联是更先进的分组形式可以把不连续的膜层关联在一起优化),堆积密度包含在细化工具下的简单下降法里面(可对折射率优化)。优化过程可以加入如选择的膜层的总厚度等不同的限制条件。Optimac和needle Synthesis方法可以优化多层膜,可加入多种材料合成优化。Context允许使用替代材料优化。
-mP2}BNM
=Fc}T%
图表
#qu;{I#W3
wV\7
Essential Macleod包括标准图片、动态图(参数的变化效应可立即看到)、三维图。
wh#IQ.E-
@QMU$]&i]
导入与导出
l_s#7 .9$
v^J']p
剪贴板支持与其它应用程序的导入与导出数据,还可以导出数据到
光学系统
软件中如FRED、VirtualLab、Zemax、Code V。
p"7]zq]'
xS(VgP&YGO
Runsheet模块
PMi.)%++
*~~J1.ja>
这个工具可设计镀膜制程,包含机器配置编辑器以及跑单生成器。
ay =B<|!
~|[i64V<^
机器配置编辑器
iSX HMp4V
]Q,&7D Ah
机器配置中贮存了特定镀膜机的详细设置,监控系统,入射角,材料,监控
芯片
,加工因子(包含随光源损耗变化的动态加工因子)。
8`s*+.LI!
SQ*%d.1
Runsheet
Hh%"
ahdwoB
使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置,进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外,还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。
Lf:#koaC
B}P!WRNmln
•对反射、背向反射和透射监控计算光学信号
DJ0jtv6nQ-
•当膜层沉积时,动态加工因子(Dynamic Tooling Factors)可以不同
iMv):1p>8
•使用偏移和放大控制可以使信号数据缩小或放大到用户自定义范围
7xM4=\~OG
•对每一膜层,监控波长、带宽、监控光谱、晶控或光控都可以用户自定义
TV|Z$,6l
•在镀膜的任何阶段,监控芯片可以更换
#)m[R5g(
•多种配套的格式输出
yRi5t{!V
•提供图片和表格的监测数据可以输出到用户自定义报告格式
<I*N=;7
V*r/0|vd
Simulator模块
*ZV3]ig2$
vTo+jQs^
对于公差问题, Simulator 通过蒙特卡罗(Monte Carlo)法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划, Simulator 可模拟薄膜淀积控制,引入随机和系统效应,例如信号噪声,加工因子的变动,封装密度误差等等,以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。
;s #I b_
l*(L"]
Monitorlink模块
WL|71?@C
fu{v(^
Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接,而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。
jd2 p~W
VStack 模块
belBdxa{"
Q@|"xKa
VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时,初始为p- 偏振态的
光线
最终会以p - 偏振态从系统出射。同理,原本是s - 偏振态光也会以p - 偏振态出射,我们称此为偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。
7Le-f
x[fp7*TiG
Function模块
G O"E>FyB
+vH#xc\'
函数扩展功能无macleod计算中的限制,Function有两个主要工具:第一是简单的宏语言可在软件表格中运行,另一个是强大的Basic脚本语言。
?&!!(dWFH
QkWEVL@uM
宏语言可以保存和调用。Operation可以使阵列数据作为变量并可进行所有必要的插值。Operations可以创建黑体辐射光源,对于柯西材料模型可提取n和K数据,很容易的计算如平均或峰值特性等庞大计算量。其简单宏指令中的操作 ( 具有内建的编辑器和语法检查器 ) 能允许一再重复相同的计算。
9ei<ou_s
'SXLnoeTa
^$mCF%e8H
q,_EHPc
脚本是比Operations功能强大但更复杂的的脚本编辑。脚本可以调用Macleod作为物的实体,并运行它的命令可以插入到工具栏中,存在两个强大的编辑器,一个是可以使用BASIC脚本编辑器,另一个允许是允许用户与程序包内置的对话框交互的脚本编辑器。
6kMEm)YjT
?9 W2ax-4
EiP N44(
脚本也兼容OLE 的外部程序如Microsoft Word软件。软件提供了许多预先编辑好的脚本,如创建新的光源,如对不同的模型创建
纳米
复合材料,如OLED特性计算,膜层表面3维数据收集,非均匀表面效应的计算。
C^LxJG{L5
4jlwu0L+
e\O625
DWDM Assistant模块
9':Hh'
`9k\~D=D~
在多腔滤波器设计中,特别是针对密集波分复用,用DWDM 助手可以避免单调的重复过程。DWDA Assistant 可自主设计一组多腔滤波片,以满足用户的不同规格,设计结果可以根据一些诸如总厚度、预计淀积时间、扰动特性等等规范排序。
GY5JPl
N"0>)tG
I *f@M}
通过扰动优化算法,增加只是由1/4 波长厚度的膜层组成的结构,减少通带中的脉动,使DWDM助手中使用的对称周期技术功能增强。一般来说,对给定要求的滤波器,有许多的设计都满足要求,但DWDM 助手可以按评价标准对设计结果进行排列。
a^^OI|?
dQFUQ
zsj]WP6j
:^qUr`)
试用索取QQ:939912426
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