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光学测量 > 干涉测量 ~J su"kr &OXx\}>MW 任务/系统说明 !Y n#3c
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gYk5 }E- 亮点 8==M{M/eM
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VQG$$McJ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； kdV 9F •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； hDZyFRg
wxPl[)E 具体要求：光源 Y hm veV Gx}`_[-  1n7'\ esC* {^uiu^RAc 具体要求：用于准直的消色差透镜 p$jAq~C PN<Vqt W 1=,2i)  +_bxza(ma{ #G`K<%{?f S+- $Ih`[  5/h-H r ^EkxZ4*g 具体要求：分束器 |s(Ih_Zn =2QP7W3mg<  * jPd=+d
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Vf 具体要求：参考光路反射镜 j&Xx{ 4v }' Y)"8AIA  #-+Q]}fB4
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~tRGw^<9 具体要求：测试光路反射镜 c?. i;4yh OgC,oj,!/  oaPWe M+
y Z)9Hd 具体要求：探测器 C#yRop_d]o pmWy:0 R  GI, TE >1Hv c7DP 结果：3D光线追迹 _#&oQFdYR #Ktk[ "6  D& o\q68 W ' 7oCWHq[ 结果：场追迹 YG:^gi %g@\S R.
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vWM&4|Q1~ 结果：移动样品的场追迹结果 UQ;2g\([ jXALL8[c  @{_X@Wv4iV 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 m;{HlDez
) [ZXPD 文件&技术信息 UF-'( X`WS&!C<
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6Y,& q| K QQ：2987619807 V?"U)Y@Y
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