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光学测量 > 干涉测量 v 9k\[E? |P_voht 任务/系统说明 88 x2Hf5I
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&=f] a 亮点 n4X EyCrD
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6~34L{u •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； vVhSl$mW •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； 8|JPQDS7
(N"9C+S} 具体要求：光源 xe"A;6H Ly46S  mUan(iJ /07iQcT( 具体要求：用于准直的消色差透镜 }|UTwjquBD `y3*\l cqYMzS
t  vRkVPkZ6| _ <Ip0?N n +v(t  h3 e
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UcQ$ 具体要求：分束器 ?` =
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uK% 0,!q 具体要求：参考光路反射镜 g
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HQZJK82 具体要求：测试光路反射镜 )Vz=:.D v65]$%F?  (fYYcpd,k
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{ 具体要求：探测器 C%# w1k J``5;% TJp  L)i6UA o V~_6t{L 结果：3D光线追迹 c!kz wc( w7E#mdW  T |&u? Cp?6vu|RA 结果：场追迹 (zPsA 9ec>#Vxx
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tl 结果：移动样品的场追迹结果 ta@fN S4 |hS^ eK_  e6>[Z C 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 ;Kh[6{ W
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< 文件&技术信息 1@N4Y9o 9!PM1<p
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de9e7.(2 QQ：2987619807 | .b&\
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