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光学测量 > 干涉测量 OwNM`xSa|\
*?1\S^7R 任务/系统说明 EHf,VIC8 l%mp49< iZnLgkk@ !^MwE] 亮点 6g#yzex &W<9#RPK' B;8Zl m9 fOSk>
gK •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; %2I>-0]B •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; w$iPFZC' f!YlYk5 具体要求:光源
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D~ '#=n> 具体要求:用于准直的消色差透镜 @UdF6:T F?a
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!uDMK 19O !a\v)R 4,:I{P_>6B *^G, X0j> g^b8 具体要求:分束器 zq$L[X j]%XY+e l}(HE+? X8*~Cf73u 具体要求:参考光路反射镜 _fn7-&6 J"E _i] ^4]=D nd% :!CnGKgt b1'849i'y= 5$:9nPAH 具体要求:测试光路反射镜 n
ei0LAD -"H$&p~ lcpiCZ 7;TMxO=bra 具体要求:探测器 NA0Z~Ug> j7w9H/XF} sx7zRw
>X I<<1mEk 结果:3D光线追迹 fH9"sBiO ]57Ef'N ~AaEa,LQ |%XcI3@* 结果:场追迹 q4!\^HwQ Mby4(M+&n -\%5aXr }zkFl{/u 结果:移动样品的场追迹结果 s"$K2k;J *a|575e< z `w4'DB-R) 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ,S(Z\[x0 vAop#V 文件&技术信息 YE*|KL^ Pz
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