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光学测量 > 干涉测量 dCzS f4: w# ;t$qz} 任务/系统说明 %@%~<U)W
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O\ w-hk 亮点 d/E 0opv
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?y^ ix+ M •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； UBx0Z0Y •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； h\8bo=
3GZrVhU?m 具体要求：光源 E,[v%Xw YwJ<0;:+hS  CDDEWVd 0:eK}tC 具体要求：用于准直的消色差透镜 (KR.dxzjf Z
FIgKWZ' D
\boF+^  oSP^
. BJ$ Qq\hD@Z| yI's=Iu`  :Z]\2(x X{qa|6S,F 具体要求：分束器 _61tE X&,a=#C^  dV"Kx
{;hR FQ^b 具体要求：参考光路反射镜 , D`\
R V >F/5`=/'h  XMpE|M! c
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v FK (Dx 具体要求：测试光路反射镜 U?ZxQj66} kk
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%UCu I9 具体要求：探测器 !r+S E *w 1R>  @FuX^Q.[ |exjrsmM* 结果：3D光线追迹 BR0P :h - [7S.  ~Yl%{1 Yd<q4VJR 结果：场追迹 "C]_pWk S&~;l/
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RZI4N4o 结果：移动样品的场追迹结果 G88g@Exk K<"Y4O#]  )n$RHt+ :> 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 [ 1.>9ngj
!,;/JxfgVh 文件&技术信息 $-_@MT~ )>WSuf
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YXTd^M~@D QQ：2987619807 s#V:!
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