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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 C6VLy x  
    /NLui@|R  
    任务/系统说明 (7vF/7BZ|_  
    <`.X$r*  
    51#_Vg  
    "i nd$Z`c  
    亮点 5&QJ7B,!  
    B-xGX$<z  
    y^;#&k!  
    '9laa=H%8  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 2y//'3[  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 r /YMLQ  
    `nUXDmdwzO  
    具体要求:光源 bn#"?6Z2  
    SzAJ2:qhl  
    :y+2*lV  
    Hkk/xNP  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 N nRD|A  
    iJ-23_D  
     ]3x?  
    qz+dmef  
    B\=L3eL<D  
    ,`|3KE9  
    |N4.u _hM  
    P60~ V"/P  
    具体要求:分束器 Q! o'}nA  
    rxe >}ZO  
    ?~l6K(*2  
    J28M@cn  
    具体要求:参考光路反射镜 O(#)m>A  
    #pT"BSz]  
    c' ^?/$H|  
    l>2E (Y|  
    ({ 8-*  
    %<)2/|lCd  
    具体要求:测试光路反射镜 BHIRH mM<Y  
    %oF}HF.  
    9/{(%XwX  
    SAH-p*.  
    具体要求:探测器 }d[ kxo  
    !Xh=k36  
    ]jtK I4  
    Y4OPEo5o  
    结果:3D光线追迹 qt"G[9;  
    NiNM{[3oS  
    =qoWCmg"&  
    T%x}Y#U'`  
    结果:场追迹 zE336  
    :I"2V  
    h(<,fg1  
    cCSs  
    结果:移动样品的场追迹结果 _mzW'~9wN  
    Bz_^~b7  
    +cD<:"L'g  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 XpIklL7  
    O6Vtu Ws%  
    文件&技术信息 b1?#81  
    P]<4R:yb  
    N@;?CKU  
    \n"{qfn`r  
    y>R=`A1b  
    QQ:2987619807 Ot$-!Y;<  
     
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