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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 Jmu oYlf|  
    !N/?b^y  
    任务/系统说明 FX+^S?x.  
    {~V_6wY g  
    XcKyrh;i  
    ,w,)n^  
    亮点 p+;x&h)[l  
    5N907XVu  
    'EB5#  
    ~Q)Dcit-  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 1#x@  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 #B__-"cRv  
    5 HN,y  
    具体要求:光源 6W'2w?qj?4  
    ah!fQLMH  
    ;nb>IL  
    OQ _wsAA  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 +}C M2>M  
    wEEFpn_   
    nN(Q}bF  
    Yt;@ @xe&  
    _m1WY7  
    9!wm`'G8  
    30h1)nQ$h}  
    ;{rl Y>  
    具体要求:分束器 {\kDu#18Ld  
    S4%MnT6Uy  
    ;W!hl<``d*  
    a;0$fRy  
    具体要求:参考光路反射镜 cx4'rK.  
    <PQ[N[SU  
    0>0:ls  
    mGUl/.;yp-  
    pl.=u0 *  
    R(HW0@R@w  
    具体要求:测试光路反射镜 :w4I+* ]  
    JmVha!<qk  
    wq3V&@.  
    @_Ly^' "  
    具体要求:探测器 ]TKM.[[  
     h93  
    s}":lXkrw  
    }UHoa  
    结果:3D光线追迹 <*&2b  
    Ps{}SZn  
    %i`YJ  
    cH$Sk  
    结果:场追迹 %LZf= `:(  
    \J^|H@;(@  
    vM2\tL@"  
    >5-]Ur~  
    结果:移动样品的场追迹结果 5P <  F  
    ,h$j%->U  
    N @sVA%L.  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 %D}]Z=gp  
    ?HaUT(\j  
    文件&技术信息 y'pX/5R0  
    'D;'Pr]  
    gw9:1S  
    }!g^}BWWp  
    eEkbD"Q  
    QQ:2987619807 -* ;`~5  
     
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