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光学测量 > 干涉测量 JmuoYl f| !N/?b^y 任务/系统说明 FX+^S?x. {~V_6wY g
XcKyrh;i ,w,)n^ 亮点 p+;x&h)[l 5N907XVu
'EB5# ~Q)Dcit- •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 1#x@ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; #B__-"cRv 5 HN,y 具体要求:光源 6W'2w?qj?4 ah!fQLMH ;n b>IL OQ _wsAA 具体要求:用于准直的消色差透镜 +}C M2>M wEEFpn_ nN(Q}bF Yt;@@xe& _m1WY7 9!wm`'G8 30h1)nQ$h} ;{rl
Y> 具体要求:分束器 {\kDu#18Ld S4%MnT6Uy ;W!hl<``d* a; 0$fRy 具体要求:参考光路反射镜 cx4'rK. <PQ[N[SU 0>0:ls mGUl/.;yp-
pl.=u0 * R(HW0@R@w 具体要求:测试光路反射镜 :w4I+*] JmVha!<qk wq3 V&@. @_Ly^'
" 具体要求:探测器 ]TKM.[[
h9 3 s}":lXkrw }UHoa 结果:3D光线追迹 <*&2b Ps{}SZn %i`YJ cH$Sk 结果:场追迹 %LZf=`:( \J^|H@;(@
vM2\tL@" >5-]Ur~ 结果:移动样品的场追迹结果 5P
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@sVA%L. 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 %D}]Z=gp ?HaUT(\j 文件&技术信息 y'pX/5R0 'D;'Pr]
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