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光学测量>显微 Jy"\_Vvl SS8$.ot 任务/系统描述 =TzJgx eTw9c }[
UA]T7r@ T*C
F5S 亮点 ^5?|Dj iPG:w+G
>o`+j$j Oi$1ma xT 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 *:un+k 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 o
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}f 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 &
@_PY `)KGajB 说明:光源 ?|}qT05 (]&B'1b 3,*A VcQA :f_oN3F p 说明:透镜系统 B Nb_i H M0)0~#?.D hgDFhbHtd6 @8aV*zjB 说明:样品结构 dWi.V?K4z ]:T:cO0_n hcYqiM@8> {x..>
4 说明:探测器 pzQc UG K)[\IJJM fk1d iB ,+C?UW 结果:3D光线追迹 mF4OLG3L0 *u,xBC2C
:=!6w i|/G!ht^e 结果:场追迹矩形光栅 pX!T; Re; 60e{]}Z #}~?8/h! @7Ln1v 结果:场追迹锯齿形光栅 M_cm,|FF v"%>ms"n (sH4T> 文件&技术信息 6L
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