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光学测量＞显微 XILreATK@ 9 ?+?V}o 任务/系统描述 VyOpPIP H\=S_b1wo
 vu_ u\2d -1]8f 亮点 nSbcq>3
VCv FCyAz
 ;:w0%>X^ CVGQ<, KVW 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 e >b|13X 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 >s>{+6e 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 2U ' Vq 5uL !Ae 说明：光源 j55OG~) HP[M"u  WC wM+D * o#P)H 说明：透镜系统 p-2PC{% t| N7dI}ju  ! u=A9i!
?w>-ya 说明：样品结构 s.>;(RiJd $ I|K<slV  xdrs!GV: <4 D. H 说明：探测器 Kbqx)E$iL RH0J# 6C/  lQf38u || eq7>-Dmi@ 结果：3D光线追迹 =~'{2gsB
7D\:i1~
 YiTVy/ n]v,cfn/=< 结果：场追迹矩形光栅 ~)]R ,qK3
3Bn  = g$>]AE
UR DXyA t 结果：场追迹锯齿形光栅 v|; }}ol  }\ hz@G< ?9:~d#p 文件&技术信息 L(_bf/ @3 DkeFDzQ5
 W$Op/ 1 ac;6`
B1(T-pr QQ：2987619807 Ec l/2
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