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光学测量>显微 +3CMfYsr8 $Plk4 o*g 任务/系统描述 :P~Owz z(qz(`eGC& i/z7a%$ kvn6
NiU 亮点 !NjE5USi (0S7 k"$V O+}m o5uwa{v 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ZxQP,Ys_Y 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ~O6=dR
在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 %#~Wk|8} Q Y`uCDfcQ 说明:光源 Viw3 /K >rubMGb S{6u\Vy cALs;)z 说明:透镜系统 Z)%p,DiNM K#@FKv|(" "?SnA +) T*m_rDDt 说明:样品结构 jC%I]#!n h>?OWI 6s;x@g]
q-#fuD^ 说明:探测器 V5+a[`] "/5b3^a Hw?
J1#1IE .anL}OA_q 结果:3D光线追迹 Y|F);XXIl H'2 =yhtVh $ }53f'QjW {;U:0BPI3 结果:场追迹矩形光栅 szHUHW~;J &n|gPp77$ ^&By |