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光学测量>显微 =Vv{ td %$}iM< 任务/系统描述 w])Sz*J 2-6-kS)c X3>(K1 D;E&;vP6% 亮点 \E30.>%, HvngjP{> 0j yokER 5Tu.2.)N 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Tv KX8 m" 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 GQQ!3LwP\O 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 =os j}( 8,=$>@u 说明:光源 )2A4vU-IR. _`(g? -/</7I *!Dzst-J3 说明:透镜系统 ?b0\[ <vrx8Q*6 68SM br OwEz(pj@ 说明:样品结构 e'`oisJU?q B?M+`; Z*)<E) Cr`
0C 说明:探测器 \z{Y(dS x0d+cSw f.= E. % 4|(?Wt)5 结果:3D光线追迹 x\%egw =bDG|:+ \x!>5Z
Y 1gE`_%?K 结果:场追迹矩形光栅 L`#+ZLo dd$N4& x6t;= :QVGY^c 结果:场追迹锯齿形光栅 >W;i2%T $o/>wgQY- VPHCPGrk 文件&技术信息 ZeeuH"A 1@WGbORc* @K9T )p] 7'|PHQ? S #RF=a7&F QQ:2987619807 =(ZGaZ}
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