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光学测量>显微 @?J7=}bzz 1F>8#+B/W 任务/系统描述 VWt=9D; 61QA<Wb
=?4[:#Rh AW\uE[kg 亮点 SN")u |1H9,:*%
28M^F~0 /+B6oE>8 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ;Q&9t 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 :I/9j=@1 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xc-[gt6 +68age;dM 说明:光源 Rf)|p; ^PE|BCs Tt{X(I} J ;2`t0#J$] 说明:透镜系统 ^-Arfm%dn ,>qtnwvlHP *qL'WrB1 1,zc8 >M 说明:样品结构 Ui"$A/ yYe>a^r4R *1-0s*T ^o>WCU = 说明:探测器 L~h:>I+pG .
WJ "+ {2! )gU:Up24|" 结果:3D光线追迹 {=Ji2k0U' sqF.,A,
=Gj~:|;$ pHoxw|'Y 结果:场追迹矩形光栅 |;aZi?Ek[ w AdaP9h je#LD Hr] 结果:场追迹锯齿形光栅 7)O+s/.P) Q$:,N=%
Jk`l{N 文件&技术信息 Z
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fe. dR>$vbjh1Z QQ:2987619807 U4Y)Jk
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