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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ~!d/8?!   
    u!U"N*Y"  
    任务/系统说明  6vTo*8D  
    C"qU-&*v  
    nL}5cPI  
    FvuGup`w  
    亮点 ow;R$5G  
    I.@hW>k  
     mNAY%Wn6k  
    C4#rA.nF|  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） vF/ =J  
     严格分析光栅衍射效率 ]:$ O{y  
     考虑入射光的方向分布 C#=bW'C  
    " ;w}3+R  
    说明：光源 HXVBb%pP  
    HygY>s+3[  
    FNQX7O52  
    .LRxP#B  
    说明：光束分束器 -g/hAxb5  
    s;YKeE!8  
    rf9_eP  
    h2;z 4  
    说明：检测透镜系统 rJ'I>Q~x6  
    )g@S%Yu  
    ;#) mLsl  
    s& {Qdf  
    说明：微型晶片 "%QD{z_L  
    ]AS"z<  
    ~Z lC '  
    zMK](o1Vj  
    说明：检测物镜 8{Fm[ %"  
    0-3rQ~u  
    QI[}(O7#6  
    l??;3kh1  
    说明：探测器 kao}(?x%  
    ) I@L+  
    I#FF*@oeM  
    }98>5%Uv  
    结果：3D光线追迹（只有0级） VnJMmMM  
    i"^<CR@e  
    y466A]|  
    ^yKY'>T#d  
    结果：3D光线追迹（所有级） gCVryB@z2  
    qturd7  
    7TX,T|>9  
    #S+Z$DQD  
    结果：光线追迹 N\1/JW+  
    M`,XyIn  
     +MO E  
    TQ1WVq }*  
    结果：场追迹 nyT[^n  
    Hwe)Tsh e  
     r<L#q)]  
    re,.@${H  
    结果：线性偏振光的场追迹 *R`MMm  
    z]$j7dp  
    _8h8Wtif  
     F}rPY:  
    文档和技术信息 oBlzHBn>0  
    %bX0 mN  
     02]xJo  
    76#.F  
      td(M#a-  
    QQ：2987619807 hK}bj  
     
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