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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 x%\m/_5w%  
    :Z'q1kW@"  
    任务/系统说明 DeTD.)pS  
    ELWm>'Q#9  
    ",&c"r4c  
    HD& Ag  
    亮点 uk)6%  
    ka$oUB)iQ  
     A(#4$}!n5  
    gQ@fe3[  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） ,*Z:a 4  
     严格分析光栅衍射效率 M~/R1\'&j  
     考虑入射光的方向分布 MH8Selnv  
    5QoU&Hv  
    说明：光源 GE0,d  
    Rw9 *!<Izt  
    |Q _]+[  
    [)&(zJHX  
    说明：光束分束器 QTNE.n<?  
    U;Ne"Jh  
    9uL="z$\  
    mI$3[ #+  
    说明：检测透镜系统 82bOiN15  
    &InMI#0mV  
    jdF~0#vH  
    pd1V8PZSG  
    说明：微型晶片 O)4P)KAO<  
    EhBYmc" &  
    +UTs2*H/^  
    4Nx]*\\  
    说明：检测物镜 H!+T2<F9R  
    1*>lYd8 _  
    xNaDzu"  
    [sT}hYh+  
    说明：探测器 mq(*4KFWJ2  
    BVt)~HZ  
    Ehv*E  
    #ir~v>J||  
    结果：3D光线追迹（只有0级） ct3^V M&/  
    9W[ ~c"Ku  
    $M(ZKS3,j  
    32N *E,  
    结果：3D光线追迹（所有级） HP /@ _qk  
    v^;%Fz_Dr  
    G2{.Ew  
    ?+WSYg0  
    结果：光线追迹 ny. YkN2  
    zeZ}P>C  
     #(5hV7i  
    ?oc#$fcQ~  
    结果：场追迹 C6XZZ  
    (Es0n$Xb  
     -Xw i}/OX  
    lR9~LNK?  
    结果：线性偏振光的场追迹 zoU-*Rs6  
    V_SZp8  
    j/FFxlFNL  
     !P6\-.  
    文档和技术信息 m R3km1T  
    b\U p(]  
     j0L A  
    YMSA[hm  
     8u401ddg  
    QQ：2987619807 oA _,jsD4  
     
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