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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 S(xs;tZ  
    9{j`eAUZl  
    任务/系统说明 0|j44e }  
    Qb>("j~Z  
    w6X:39d  
    b1i~F45h  
    亮点 7 L ,`7k|  
    4[]*=  
    {^N,$,Ab.  
    U YJ>L  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) <a -a~  
     严格分析光栅衍射效率 U>.5vK.+  
     考虑入射光的方向分布 q. Jx|x  
    ftPhE)i  
    说明:光源 LA59O@r  
    YlG#sBzl  
    Y%eW6Y#  
    >yn]h4M  
    说明:光束分束器 Yu_ eCq5/  
    SSE,G!@  
    u?MhK# Mr  
    RfD#/G3|  
    说明:检测透镜系统 $^ ^M&[b-  
    ~Y*.cGA  
    047PlS  
    E)jd>"  
    说明:微型晶片 (,+#H]L  
    G,Eh8 HboK  
    ~~k0&mK|Q  
    g +gcH  
    说明:检测物镜 3PRU  
    9 4lt?|3=  
    )c9Xp:  
    #EE<MKka  
    说明:探测器 h]z8.k2n  
    /=9dX; #  
    s%Ph  
    )t-P o'RW  
    结果:3D光线追迹(只有0级) r]D>p&4  
    BOM0QskLf  
    1)ij*L8k  
    gjnEN1T22  
    结果:3D光线追迹(所有级) 9yTkZ`M28  
    3y2L! &'z  
    &K[~Ab_  
    +/mCYI  
    结果:光线追迹  ;ud"1wH  
    09Eg ti.  
    P()W\+",n  
    2MYez>D  
    结果:场追迹 y ,`0f|  
    E U RKzJk  
    $;=?[Cn  
    xmC5uT6L3M  
    结果:线性偏振光的场追迹 |)%H_TXTy  
    j)iUg03>/4  
    ]S9Z5l0  
    zn^ G V  
    文档和技术信息 0ZI}eZA j  
    wnXU=  
    ){,M v:#+T  
    Y@MxKKuj  
    ?-`&YfF  
    QQ:2987619807 A8S9HXL  
     
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