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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 SOIN']L|V[  
    < =IFcN  
    任务/系统说明 A@#E@ ;lm  
    _lq`a\7e  
    GTHt'[t@;  
    3Jn ;}  
    亮点 6ik$B   
    f _:A0  
     qf-8<{T  
    <F'\lA9  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） M<&= S  
     严格分析光栅衍射效率 M"L=L5OH-  
     考虑入射光的方向分布 <C*hokqqP  
    \Vk:93OH21  
    说明：光源 ;n;p@Uu[ b  
    s5. CFA  
    0> \sQ,T  
    yB!dp;gM{  
    说明：光束分束器 ^<6[.)  
    kq-) ^,{y  
    3XNCAb2  
    N2o7%gJw  
    说明：检测透镜系统 #\ErY3k6&  
    nJ;.Td  
    izR"+v  
    x?<FJ"8"k  
    说明：微型晶片 FP>2C9:d  
    |uJ%5y#  
    *n!J=yS  
    _yT Ed"$  
    说明：检测物镜 |V(0GB  
    w32y3~  
    J[kTlHMD  
    0*v2y*2V  
    说明：探测器 -:rUw$3J  
    \{D" !e  
    zT{ VE+=  
    !5N.B|N t  
    结果：3D光线追迹（只有0级）  Fk;Rfqq  
    Uw:"n]G]D?  
    7|H$ /]  
    {4PwLCy  
    结果：3D光线追迹（所有级） u%!@(eKM-  
    ;FEqe 49  
    z@j8lv2j1  
    eJX#@`K  
    结果：光线追迹 3(UVg!t  
    6dYMwMH  
     X wtqi@zlE  
    2A!FDr~cdT  
    结果：场追迹 8?C5L8)  
    FGkVqZ Y2?  
     4&iCht =  
    ./~(7o$  
    结果：线性偏振光的场追迹 D/' dTrR  
    IVmo5,&5(  
     AOx[  
     v-Sd*( 6  
    文档和技术信息 8b=_Y;  
    ##ANrG l  
     Q59W#e)  
    LIrb6g&xj_  
     >R=|Wo`Ri  
    QQ：2987619807 UCWBYC+  
     
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