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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 "CQ:<$|$  
    z!9w Lo^r  
    任务/系统说明 gDsb~>rb|  
    cr{f*U6`  
    "IdN*K  
    9<!Ie^o?  
    亮点 {Ve_u  
    X04JQLhy"  
     /`B:F5r  
    LT '2446  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） p?sC</R  
     严格分析光栅衍射效率 Pu|3_3^  
     考虑入射光的方向分布 G C3G=DTt  
    .{#J2}+[_}  
    说明：光源 TqXB2`7Ri  
    Oc?]L&ap  
    +,Z Q( ZW  
    >BlF< d`X  
    说明：光束分束器 ^{fA:N=  
    uyWt{>$  
    ||kUi=5  
    dX~$#-Ad86  
    说明：检测透镜系统 1lQO`CmR6M  
    H(j983  
    QPpC_pZh  
    S_56!  
    说明：微型晶片 L(qQ,1VY  
    5XA{<)$  
    zH+a*R  
    r(cd?sL96R  
    说明：检测物镜 <-m[0zg q  
    *5|q_K Pt  
    aRF}F E,u  
    e47N9&4  
    说明：探测器 q'[q]  
    4XXuj  
    %Y//}  
    le J\  
    结果：3D光线追迹（只有0级） `Kq4z62V  
    wLz@u$u?  
    <mdHca  
    Z]1jg>")  
    结果：3D光线追迹（所有级） 1US4:6xX_  
    wm/=]*jpK  
    /V@9!  
    V t@]  
    结果：光线追迹 <^8&2wAkJ  
    },LO]N|  
     v46 5Z  
    Wc qUF"A  
    结果：场追迹 YE5B^sQ1  
    y)e8pPDG  
     ||t"}Y  
    YZ0Jei8+-  
    结果：线性偏振光的场追迹 DqGm  
    .8EaFEd  
    Tweku}D7  
     ruQ1Cph  
    文档和技术信息 j!<(`  
    !O }^Y  
     w[X/|O  
    p`-Oz]  
     Z0I>PBL@l  
    QQ：2987619807 #XPY\n^k  
     
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