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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 tHLrhH<w  
    ;c$J=h]  
    任务/系统说明 Z|}G6]h  
    @k&qb!Qah  
    |7x\m t  
    F5S@I;   
    亮点 gv5*!eI  
    ^n0]dizB  
    @JdZ5Q  
    \W1/p`  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) uslQ*7S[^  
     严格分析光栅衍射效率 K\|FQ^#UYm  
     考虑入射光的方向分布 6;b~Ht  
    ;;&}5jcV  
    说明:光源 sVex (X  
    v+9 9 -.  
    y(K" -?  
    (h:Rh  
    说明:光束分束器 Jaz?Ys|S  
    Y3Q9=u*5  
    ut r:J  
    o.I6ulY8  
    说明:检测透镜系统 \6\<~UX^  
    ,0LU~AGe   
    B#9{-t3Vf  
    =hl}.p  
    说明:微型晶片 mc4i@<_?  
    6Cp]NbNrq  
    )p*}e8L  
    H/}]FmjN  
    说明:检测物镜 Nz)l<S9>  
    z;y:9l  
    R LD`O9#j  
    :,)lm.}]t  
    说明:探测器 K #.  
    7%sdtunf`  
    OrK&RC  
    !F?XLekTi  
    结果:3D光线追迹(只有0级) 4WK3.6GN  
    V*~Zs'L'E  
    }u1O#L}F5  
    ^aW Z!gi  
    结果:3D光线追迹(所有级) ]kboG%Dl?9  
    }}<z/zN&^  
    --DoB=5%8  
    ^b %0 B  
    结果:光线追迹 xMBaVlEN  
    P~ &$l2  
    M8u<qj&<O  
    k!{p7*0  
    结果:场追迹 k?7 X3/O  
    +zs4a96[  
    ,UuH}E  
    r hfb ftw  
    结果:线性偏振光的场追迹 $.bBFWk  
    ZWS`\M  
    {%C7EAq*  
    +$Rt+S BD  
    文档和技术信息 L31|\x]  
    D$x_o!JT  
    zLJ/5&  
    XO'l Nb.  
    Nr=d<Us9f  
    QQ:2987619807 ^I+)o1%F  
     
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