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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 XGhwrI^  
    =LK}9ViH  
    任务/系统说明 Y1WHy *s?  
    R:f7LRF/\  
    `36N n+A  
    :/i~y$t  
    亮点 m:3J!1  
    ;y OD  
     y1#O%=g  
    pC^2Rzf  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） F"[3c6yF  
     严格分析光栅衍射效率 8%-%AWF]  
     考虑入射光的方向分布 e3g_At\  
    O_AGMW/2+  
    说明：光源 O|7yP30?M  
    ,T{oy:rB  
    Ye@t_,)x  
    A0>x9XSkJ  
    说明：光束分束器 }[v~&  
    `iQqhx  
    A9;0y jae  
    u7#z^r  
    说明：检测透镜系统 K$ AB} Fvc  
    iadkH]w  
    !oGQ8 e  
    ]u0Jd#@  
    说明：微型晶片 #w*"qn#2Uz  
    i-.c= M  
    c3#q0Ma  
    e9:P9Di(b  
    说明：检测物镜 ]"h=Qc  
    h)@InYwu7  
    Hk9U&j$  
    AerFgQiS  
    说明：探测器 SX_4=^  
    OpQ8\[X+  
    %t[K36,p  
    CKd3w8;  
    结果：3D光线追迹（只有0级） vYdlSe=6G  
    |!}wF}iLc)  
    {g_@Tuu  
    DEtf(lW_  
    结果：3D光线追迹（所有级） >|nt2  
    y 1nU{Sc@  
    _Ex|f5+  
    qd8pF!u|#  
    结果：光线追迹 .[(P  
    yC"Zoa6YZ  
     7"K^H]6u30  
    ~!] m6/  
    结果：场追迹 !Rqx2Q  
    /[?Jylj  
     }N]!0Ka  
    u]bz42]  
    结果：线性偏振光的场追迹 eXG57<t ON  
    (}jL_E  
    %w:'!X><  
     }"4roJ  
    文档和技术信息 P^zy;Qs7  
    7P*Z0%Q  
     WK4@:k m6)  
    >UWStzH<  
      Q; 20T  
    QQ：2987619807 #HG&[Ywi  
     
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