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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 NfDS6i.Fqp  
    L } R"1O  
    任务/系统说明 ;Z*rY?v  
    A;8kC}  
    >lIzeEW#  
    6%V:Z  
    亮点 ) f3A\^  
    .u mqyU~  
     j \r GU){  
    nc1~5eo  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） lITd{E,+r  
     严格分析光栅衍射效率 K~#?Y,}O  
     考虑入射光的方向分布 zU1D@  
    b@J"b(  
    说明：光源 '`^~Zy?c  
    WWSycH ?[  
    /)[-5n{  
    i6yA>#^  
    说明：光束分束器 < }K9 50  
    :?~)P!/xl5  
    XoD:gf  
    u^xnOVE  
    说明：检测透镜系统 '=nmdqP  
    }`CF(Do  
    KKpM=MZ  
    Rir0^XqG  
    说明：微型晶片 T^!Q(`*  
    A$p&<#  
    OGcdv{ ,P  
    E 14DZ  
    说明：检测物镜 L:C/PnIV  
    m?wQk:Y1  
    ItLR|LO9  
    @~vg=(ic(  
    说明：探测器 Pfs_tu  
    2XL^A[?   
    &'`C#-e@  
    oaha5aWH  
    结果：3D光线追迹（只有0级） m> +  
    Xc+YoA0Ez  
    F4~ OsgZ'N  
    Pz*BuL <  
    结果：3D光线追迹（所有级） kKRu]0J~[  
    '{0O!y[H6  
    X"3p/!W.4  
    ]2L11" erP  
    结果：光线追迹 0Gj/yra9MO  
    Z:^<NdKe  
     T$mT;k  
    \4qF3#  
    结果：场追迹 o#"yFP1  
    Ng<ic  
     q2|x$5  
    /V0Put  
    结果：线性偏振光的场追迹 >"UXY)  
     DEu0Z  
    xN$V(ZX4  
     g_ep 5#\D  
    文档和技术信息  %o/@0.w  
    t{UWb~"  
     .+Q1h61$T  
    O:+y/c  
     "r;cH53  
    QQ：2987619807 %;]/Z%!  
     
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