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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 f05"3L:  
    PJK]t7vp  
    任务/系统说明 ?zhI=1 ED%  
    <=m 30{;f  
    cbh#E)[ '  
    9QOr,~~s  
    亮点 dI_r:xN  
    t(j_eq}J  
     8_<&f%/  
    8!uL-_Bn  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） T\2) $  
     严格分析光栅衍射效率 zJfK4o  
     考虑入射光的方向分布 S_|9j{w)  
    /zl3&~4  
    说明：光源 ! v-w6WG"  
    |6sT,/6  
    RP~vB#}  
    H]tSb//qc  
    说明：光束分束器 - - i&"  
    'NT#(m%  
    7wiK.99  
    5Cc6 , ]  
    说明：检测透镜系统 P1 7>6)a  
    QIij>!c4  
    :cXIO  
    &Rt+LN0qB0  
    说明：微型晶片 6K4`;  
    C(F1VS  
    FX|0R#4vm  
    P[rAJJN/E  
    说明：检测物镜 Pn'`Q S?  
    /'&.aGW4%  
    ";)r*UgR{B  
    I"8d5a}  
    说明：探测器 Ynv9&P  
    *D=K{bUe'  
    69[V <1  
    \#\`!L[1  
    结果：3D光线追迹（只有0级） NK+FQ^m[  
    <S\;k@f  
    gB/;clCdX)  
    ?G4iOiyt  
    结果：3D光线追迹（所有级） $xRo<,OV+  
    H o4B   
    }iPo8Ra  
    nmD1C_&  
    结果：光线追迹 \g~ws9'~  
    'v'` F*6  
     U9<_6Bsd  
    b(q$j/~ zb  
    结果：场追迹 F3r S6_  
    %'{V%IXQ  
     I$aXnd6)  
    #'J~Xk   
    结果：线性偏振光的场追迹 u{g]gA8s  
    * T JBPM,  
    5"1!p3`\D{  
     `xISkW4%  
    文档和技术信息 vn|TiZ  
    "NxOOLL  
     |f"-|6  
    4|zd84g  
     T1lXYhAWS  
    QQ：2987619807 o{9?:*?7  
     
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