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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 TQEZ<B$  
    kB8l`| I  
    任务/系统说明 sVC5<?OW!p  
    tl4;2m3w  
    7v?Ygtv  
    x/Ds`\  
    亮点 G?"1 z;  
    t4<#k=  
     Dho~6K }"  
    F0|T%!FB>%  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） I#,,h4C  
     严格分析光栅衍射效率 uUJ2d84tV  
     考虑入射光的方向分布 -p)HH@6a  
    %|u"0/  
    说明：光源 \UE9Ff+{  
    W35nnBU  
    w"sRK  
    wj?f r?  
    说明：光束分束器 i'57|;?  
    *&U9npN  
    <8y8^m`P9  
    NH?s  
    说明：检测透镜系统 LCdc7  
    wY=ky629  
    I{2e0  
    ,~3sba  
    说明：微型晶片 xCQ<G{;C  
    B]hZ4.B1  
    ;m&f Vp  
    p\,lbrv  
    说明：检测物镜 "w A8J%:  
    J LeV@NO  
    m2V4nxw]Qp  
    C :e 'wmA  
    说明：探测器 c"QI`;D_c  
    v` B_xEl  
    t,H,*2  
    1'g?B`  
    结果：3D光线追迹（只有0级） -Rf|p(SJ,E  
    ?,Hk]Rl3  
    ?hwQY}   
    Vxw?"mhP  
    结果：3D光线追迹（所有级） SGbo|Xe7:  
    ; lK2]  
    aTPpE9Pa&  
    4RzG3CJdS  
    结果：光线追迹 n =v %}@f2  
    \t1vYIY]T  
     )pzXC  
    3NJ-.c@(p  
    结果：场追迹 (_W[~df4  
    HPgMVp'  
     Y>z(F\  
    cJty4m-  
    结果：线性偏振光的场追迹 u!X 2ju<  
    WpvH} l r}  
    8pk5[=3Z  
     Llzowlfe  
    文档和技术信息 Mc\lzq8\ 1  
    ]f-e/8$`@  
     X~R qv5@-  
    5Q^~Z},  
     2R_k$kHl  
    QQ：2987619807 @hv9 =v+  
     
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