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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 Y@v>FlqI{  
    [KQi.u  
    任务/系统说明 jo7\`#(Q  
    0"R|..l/  
    :]"V-1#}  
    ]iWRo'  
    亮点 @ZJS&23E  
    FwK] $4*  
     *Ly6`HZ9  
    [7-?7mp!B  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） lYIH/:T  
     严格分析光栅衍射效率 l}h!B_P'  
     考虑入射光的方向分布 2eogY#  
    K:M8h{Ua  
    说明：光源 rOYx b }1  
    yauvXosX  
    ]|@^1we  
    54,er$$V  
    说明：光束分束器 / 1RpM]d  
    bD^owa  
    }vuARZ>  
    Y2TtY;  
    说明：检测透镜系统 !Cs_F&l"j  
    sA~]$A;DM!  
    y5r4&~04  
    km(Po}  
    说明：微型晶片 \['Cj*ek  
    #tHK"20  
    +q4O D$}  
    '"^'MXa  
    说明：检测物镜 bcyzhK=  
    .}t e>]A*  
    e.>P8C<&  
    #c J@uqR  
    说明：探测器 DXo|.!P=3  
    K9[UB  
    1oS/`)  
    '91/md5  
    结果：3D光线追迹（只有0级） 1\Xw3prH  
    0sqFF[i  
    }C:r 9? T  
    ;gkM{={`p  
    结果：3D光线追迹（所有级） x:;kSh  
    8}[).d160  
    XSDpRo  
    }EPY^VIw  
    结果：光线追迹 0@(&eH=  
    |>Vb9:q9Po  
     *hx  
    "g|#B4'e  
    结果：场追迹 ]lbuy7xj63  
    8y L Y  
     Z r8*et  
    f 2.HF@  
    结果：线性偏振光的场追迹 uD'6mk*  
    h\o.&6sd  
    b sX[UF  
     QY/w  
    文档和技术信息 UpG~[u)%@  
    $X6h|?3U,  
     O?2DQY?jT  
    \Z/@C lCm  
     ;'|Ey  
    QQ：2987619807 Tx D#9]Q`  
     
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