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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ]Q%|69H}B  
    n1Y3b~E?E  
    任务/系统说明 c<(LXf+61  
    bay7%[BLB  
    xz#.3|_('  
    Ke_ & dgsq  
    亮点 j.5;0b_L^  
    Fp`MX>F  
     K)h\X~s  
    $c WO`\XM  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） #kuk3}&  
     严格分析光栅衍射效率 uMB|x,X I  
     考虑入射光的方向分布 c04"d"$ x  
    @\!9dK-W  
    说明：光源 l9 K 3E<g  
    0Q]p#;  
    K]b_JDEk  
    VHyP@JB  
    说明：光束分束器  `#m>3  
    ]/_GHG9  
    ^aW?0qsH  
    L 1fK  
    说明：检测透镜系统 2WA =U]  
    &|:T+LVv$+  
    s 4Mi9h_  
    ""dX4^gtU  
    说明：微型晶片 ic"n*SZa  
    6iozb~!Rr  
    UacGq,  
    ;T|y^D  
    说明：检测物镜 V!'N:je  
     n(mS  
    pY3N7&m\:  
    eBK s-2r  
    说明：探测器 <z>K{:+>  
    CKAs3",  
    `q ;79t  
    ~/@5&ajz  
    结果：3D光线追迹（只有0级） yrDWIU(8;6  
    4LCgQS6  
    ]g>@r.Nc  
    [N|/d#  
    结果：3D光线追迹（所有级） KAR XC,z  
    (okCZ-_Jn  
    IZm_/  
    )8c`o  
    结果：光线追迹 6zQ {Y"0  
    I6]|dA3G  
     !lSxBr[dQ  
    ;|2h&8yX(/  
    结果：场追迹 2u[:3K-@,  
    nP9@yI*7  
     cx]O#b6B.  
    dYg}qad5:  
    结果：线性偏振光的场追迹 a0"gt"q A  
    M y:9  
    (8!#<$  
     `ag7xd!  
    文档和技术信息 ~3 {C &c  
    )e)@_0  
     3:$hC8  
    _v=@MOI/J  
     q%4l!gzF3  
    QQ：2987619807 Z=O2tR  
     
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