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摘要 z~RE}k ;v%f + 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 }m.45n/ Sk%*Zo{|
Uizg.<. $xq$ 建模任务 te#Wv9x ]9$^=z%SE
V\r2=ok@y /9@VnM 结果 -h,?_d> 3|1v)E 63pd W/\j !,cfA';S 文件信息 @*5(KIeeC> %bgUU|CdA
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F. V*F |Yo: QQ:2987619807 KWiP`h8
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