切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 929阅读
    • 0回复

    [推荐]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    在线infotek
    科学家
     
    发帖
    5431
    光币
    21335
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-09-23
    摘要 D5wy7`c  
    yEnurq%J  
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 @A_bZQ@  
    6^vMJ82U  
     IA\CBwiLj  
    JMMT886  
    建模任务 QJL%J  
    pZS0;T]W,  
     gD"]uj<  
    )%4%Uo_Xm  
    结果 $*035f  
    2VrO8q(  
    ?R  4sH  
    xQ[~ c1  
    文件信息 }tvLe3O  
    }klET   
     i?.7o*w8  
    YEL, TU  
     5J d7<AO_  
    QQ：2987619807 #1INOR9  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表