切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 955阅读
    • 0回复

    [推荐]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5545
    光币
    21885
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-09-23
    摘要 C. rLog#  
    HJ+I;OJ  
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 &Y/Myh[P  
    ~|t 7  
     NL76 jF  
    nm.~~h+8M  
    建模任务 r"uOf;m  
    c2iPm9"eh  
     4EtP|  
    4_'($FC1  
    结果 uv$t>_^  
    knU=#  
    @cz\'v6E  
    tbr1mw'G  
    文件信息 u(92y]3,  
    f#3U,n8:  
     Yo$NE  
    n fU\l<  
     0-!K@#$>=  
    QQ：2987619807 / Q8glLnM  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表