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摘要 rWF~aec R%XbO~{u 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Y+ P\5G .Vq-<c% 建模任务 o9~ Z! &p +r9:n(VP vBQ|h
元件倾斜引起的干涉条纹 D
%~s Q~]#x![u0 J=W"FEXTL7 元件移位引起的干涉条纹 hRSRz5 J} D52ELr7 "y/GK1C 文件信息 a9}cpfG=) ? e%Pvy<i g+p?J.+
QQ:2987619807
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