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摘要 :Bv&)RK OU.9 #|q U 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 vi! r8k t`8e#n 9 建模任务 =Mu'+,dT U8QR*"GmT RZ)vU'@kx 元件倾斜引起的干涉条纹 -4y)qGb*? Sp`fh7d.( <7FP"YU 元件移位引起的干涉条纹 }OP%p/eY 1YIux,2\ m['v3m: 文件信息 PD}SPOA`U3 wwK~H ndKvJH 4
QQ:2987619807
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