切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 1129阅读
    • 0回复

    [推荐]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    在线infotek
    科学家
     
    发帖
    5280
    光币
    20640
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-08-06
    摘要 >~7XBb08  
     RJ3uu NK7  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 5WHqD!7u  
    (Of`VT3ZOA  
    建模任务 :xmj42w>^  
    nQ'NS  
    '%_K"rb  
    元件倾斜引起的干涉条纹 Qd~7OH4Lp  
    "Cvr("'O  
    ^Rl?)_)1HE  
    元件移位引起的干涉条纹 u*qI$?&  
    =MJRQ V67  
    A'}!'1  
    文件信息 }X])055S  
     lO9Ixhf~iu  
    kDJqT  
    QQ：2987619807
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表