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摘要 3/RNStd<L! cy( WD#^ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 l#!6
tw+e? cp3O$S 建模任务 +IbQVU~/
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\n G>j4b}e 元件倾斜引起的干涉条纹 e'5sT#T9 l >WYradLUi zr1A4%S" 元件移位引起的干涉条纹 \WZ]'o6 MI|anM gw v
s 文件信息 rI;tMNs sB%QqFRP uxD$dd?
QQ:2987619807
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