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    [推荐]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-08-06
    摘要 W:D'k^u  
    b<,Z^Z_  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 _/;k ;$gDp  
    n5CjwLgu\b  
    建模任务 Z* eb  
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    3 $7TeqfAC  
    元件倾斜引起的干涉条纹 <[{Ty+  
    L4Ep7=  
    l%"[857  
    元件移位引起的干涉条纹 v~^c-]4I  
    FlJ(V  
    i!8 o(!I  
    文件信息 Ar&]/X,WG  
    Fx#0 :p  
    Uw R,U#d  
    QQ:2987619807
     
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