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摘要 W:D'k^u b<,Z^Z_ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 _/;k;$gDp n5CjwLgu\b 建模任务 Z*
eb UB[tYZ 3 $7TeqfAC 元件倾斜引起的干涉条纹 <[{Ty+ L4Ep7= l%"[857 元件移位引起的干涉条纹 v~^c-]4I FlJ(V i!8 o(!I 文件信息 Ar&]/X,WG Fx#0
:p Uw R,U#d
QQ:2987619807
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