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摘要 ?O/!pUAu MNKY J 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 {uiL91j. SCXtBZ`.G 建模任务 M V~3~h8 n*N`].r#{= rF
. Oo 0 元件倾斜引起的干涉条纹 YHo*IX')C? `AhTER \xOv 9( 元件移位引起的干涉条纹 NKRH>2, ImI,q:[67 vi0nJ -Xg 文件信息 Iyt.`z U p: M[S
BE," lX
QQ:2987619807
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