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摘要 j0jl$^ ~Bd=]a$mj 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ,Kit@`P% \bA Yic 建模任务 jN=<dq
~ 2z.ot' gL; Kie6Z 元件倾斜引起的干涉条纹 +n3I\7G> D:)Wr, 26 5of3& 元件移位引起的干涉条纹 {h<D/:^v &4#Zi.] K|& f5w 文件信息 +/:tap|V Dn- gP 5En6f`nR{
QQ:2987619807
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