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摘要 v7x%V%K C&Rv$<qc 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 OKs1irt5 t]LOBy-Kv
P%MYr"<$E T.\=R 建模任务 CX/ _\0G4 z\wY3pIr2 D4nYyj1O3
xwK{}==U 元件倾斜引起的干涉条纹 Q!7il<S M4[(.8iE
m{T:<:q~ w1tWyKq 元件移动引起的干涉条纹 E(]39B"i [\eh$r\
XS+2OutVo z2'3P{#s 走进VirtulLab Fusion zf+jQ jpijnz{M
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i>` −基本源模型[教程视频] WbF[4x
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] !4Q0 k# -u!G
FfEP@$ /j%(Z/RM VirtualLab Fusion技术 "u29| OY a}(xZ\n^D;
q|N,?f9 yhTC?sf< 文件信息 #6okd*^ cX~J6vNy5
))M!"* P_e9>t@ T,G38 QQ:2987619807 k5M3g*
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