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摘要 '@i/?rNi%N Z\D!'FX 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 T?{"T/ u;H SX
lX/s Q s"?Z jV)` 建模任务 5Jh=${ C,Q>OkSc 0#0[E , thIuK V{CO 元件倾斜引起的干涉条纹 W~2`o*\l aFGEHZJQ
;D&FZ|`(u EE(1;]d- 元件移动引起的干涉条纹 2'Cwx-_G` <0g.<n,
pSvRyb.K MdmS 走进VirtulLab Fusion FJomUVR . 4qXO8T#~J=
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