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摘要 R".$x{{
PB. 'huu
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 'RF`XX
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元件倾斜引起的干涉条纹 %.]#3tW tPN CdA
 j;V\~[I^u ,b IJW]h0 元件移动引起的干涉条纹 b S gbvnJ
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N- &ZaK QRrA yRf[ −基本源模型[教程视频] |r,})o>
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] r\F2X J^
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3N+B|WrM VirtualLab Fusion技术 Q _! tn*
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