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摘要 #bT8QbJ( p$Kj<:qiP
YijMF/Uyb #:J:YMv 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 S!;LF4VA q,B3ru.?d 建模任务 mn]-rTr Y[Q@WdE9
nbI=r+ 5@P%iBA4(3 由于组件倾斜引起的干涉条纹 n/QfdAg Y1{B c<tC
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