切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1430阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 ?-y!FD}m&  
    Hkcr+BQ  
    Q9UBxpDV:  
    $!(J4v=X  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 %(c5T)B9  
    rW~hFSrV[o  
    建模任务 !OVTs3}  
    {iyO96YI[^  
    `eF&|3!IYQ  
    Ux<2!vh  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 $6(,/}==0  
    MQ9Nn|4  
    O[N}@%HMW  
    #hA]r.  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 K%XQdMv  
    w4:  
    y5td o'Ex  
     
    分享到