-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-02-26
- 在线时间1743小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 _">F]ptI; ,5 ka{Q`K
V\zcv @ Ob]\t/:%P 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +8zACs{p P}8hK 建模任务 Ag9GYm d]e36Dwk
UCcr> c
qCNk 由于组件倾斜引起的干涉条纹 !6=s{V&r1 s 1M-(d Q
O80Z7 .zZfP+Q]8 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Y9X,2L7V u!D?^:u=)
 'S6zk wC]
|