切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1413阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    5631
    光币
    22307
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 _">F]ptI;  
    ,5 ka{Q`K  
    V\zcv@  
    Ob]\t/:%P  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +8zACs{p  
    P}8hK   
    建模任务 Ag9GYm  
    d]e36Dwk  
    UCcr>  
    c qCNk  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 !6=s{V&r1  
    s 1M-(d Q  
    O80Z7  
    .zZfP+Q]8  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Y9X,2L7V  
    u!D?^:u=)  
    'S6zkwC]  
     
    分享到