-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 :u$+lq oK3aW6
Vdz(\-}ao `DPR >dd@ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 r0 6M.r &`J?`l X 建模任务 p/f!\ bhb*,iWA
A,)G$yT\ N2x!RYW 由于组件倾斜引起的干涉条纹 =!cI@TI +$x;FT&
A->y#KQ 5h4E>LB.B 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 :<$IGzw}. ttK`*Ng
 >.-$?2
|