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摘要 49rf7NT-g J ][T"K
S'|,oUWDb nim*/LC[: 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 C\S3Gs zjJ *n8l 建模任务 VvvRRP^q *i\Qo
B( ]M& J4QXz[dG 由于组件倾斜引起的干涉条纹 8qY79)vD4E w zYzug
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