如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
j6v|D>I .4on7<-a 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
VP0q?lh 在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
m,}0p ]v^/c~"${ 9A_{*E(wd 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ <T]%Gg8 Uytq,3Gj6 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
ZrY#B8 k(LZ,WSR 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
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GELl; 1o"/5T:S[ 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!