如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
gMp' S 7xfS%'=y" 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
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h 在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
nYe:$t3F= }'K-1: GInw7 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ 5Vai0Qfcu: 8s
%YudW 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
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i&k 0%)T]SDS 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
e0j4t-lL dnh~An 9 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!