如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
E2cmT$6 r v>6k:( 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
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在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
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ia( [;+YO) 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ PeZ=ONY5 ]RJ2`xf 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
DoA f,9|_ U6"50G~u 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
4`B:Mq&j u5,<.#EVY 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!