如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
LS
<\%A} l*^c?lp) 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
W:'H&`0 在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
e+Vn@-L; Gg$4O 8 Z0 @P1 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ IN~Q(A]Z% Z7J8%ywQ 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
imC>T!-7 xim'TVwvC 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
LR%]4$ /M bdbTK8- 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!