扫描电子显微镜SEM应用

发布:探针台 2020-05-12 10:28 阅读:1366
扫描电子显微镜SEM应用范围: nl,uuc*;  
      1、材料表面形貌分析,微区形貌观察 -FQ 'agf@&  
      2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 t9:0TBt-[  
      3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 r|PB*`  
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Um-[~-  
扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单,不需要包埋和切片。 tX %5BTv  
样品要求: wInh~p  
样品必须是固体;满足无毒,无放射性,无污染,无磁,无水,成分稳定要求。 oVfLnI ;  
制备原则: s;vHPUB\n  
表面受到污染的试样,要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗,然后烘干; )i^<r;_z  
新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以免破坏断口或表面的结构状态; }\:Nu Tf  
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干; 6@0OQb  
磁性样品预先去磁; Hi1JLW,  
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 [>%xd)8.c  
常用方法: }YNR"X9*)/  
块状样品 7.#F,Ue_0T  
块状导电材料:无需制样,用导电胶把试样粘结在样品座上,直接观察。 t*T2Z-!P  
块状非导电(或导电性能差)材料:先使用镀膜法处理样品,以避免电荷累积,影响图像质量。 9g"2^^wD  
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