扫描电子显微镜SEM应用
扫描电子显微镜SEM应用范围:
1、材料表面形貌分析,微区形貌观察 2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单,不需要包埋和切片。 样品要求: 样品必须是固体;满足无毒,无放射性,无污染,无磁,无水,成分稳定要求。 制备原则: 表面受到污染的试样,要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗,然后烘干; 新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以免破坏断口或表面的结构状态; 要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干; 磁性样品预先去磁; 试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 常用方法: 块状样品 块状导电材料:无需制样,用导电胶把试样粘结在样品座上,直接观察。 块状非导电(或导电性能差)材料:先使用镀膜法处理样品,以避免电荷累积,影响图像质量。 分享到:
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