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摘要 dw"Es;^ Z!"-LQ J 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 6dIPgie3w bej(Ds0
 hJEd7{n 0Qt!w( 建模任务 pW V_KS Fc1!i8vv 90Ki.K 0 仿真干涉条纹 Fc5.?X- YhN<vZ}U!~ /mex{+p>tO 走进VirtualLab Fusion _Vr- bpAf C
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−基本光源模型[教程视频] x6UXd~
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•使用导入的数据自定义表面轮廓 xuK"pS
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− LPD II：位置和方向[教程视频]QQ1824712522 )^ah, ;( •正确设置通道以进行非序列追迹 m)Plv+R} −非序列追迹的通道设置[用例] JsJP%'^/R
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−参数运行文档的使用[用例] PK[mf\G\
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