用户可以通过以下输入指定个别光线进行校正，但是需添加在M、MF、L或LL等行之后。 $Z+N* w~8
mf,mKgfG
{ A / S / MUL / DIV } { ICOL / P } name HBAR XEN YEN GBAR [ SN ] $*xnq%A
其中name为： RT)0I;
cGsP0LkHC
A、 S、 MUL 和 DIV确定如何将该部分像差与任何先前的像差部分组合来构成一个组合。(加、减、乘、除)。 R|$=Pfg~4
ICOL——波长编号。可用“P”代替主波长，但不能用“Ｍ”。 8s?;<6
YA——光线Y坐标实际值； O(~`fN?n
YC——主光线在主波长下的Y坐标； q}ZZqYk
YP——主光线在设置波长下的Y坐标； (FH4\ 't)
XA——光线X坐标实际值； 9D(M>'Bh
XC——主光线在主波长下的X坐标； OrPIvP<w@
XP——主光线在设置波长下的X坐标； ?5$\8gZ
ZA——光线Z坐标实际值； | (v/> t
OPD——光程差，单位为waves； ? RB~%^c!
OPP——光线差； BG-uKJ ^
RA——从光轴到光线截距的径向距离。总是正值； }C2I9Cl
RC——光线截距与主光线在主波长下的距离。总是正值； > :!faWX
ZZ——经表面折射后的光线路径在X-Z平面上投影的角度正切值； WB6g i2
HH——经表面折射后的光线路径在Y-Z平面上投影的角度正切值； 7Q 0 M3m
UNI——在表面折射之前，表面上的光线入射角，单位为度，总是正值； ,":"Op61
UNR——经表面折射后的光线角度； Lt@4F
HFREQ——HOE或光栅的局部光栅频率；这是沿着条纹平面测量的； K KGAk\X
HSFREQ——光栅频率是沿着表面测量的，而不是普通平面； fS1N(RZ 1
FLUX——光通量； KbMga tI/
XG，YG，ZG——光线的全局（X，Y，Z）坐标； V,|l&-
ZZG，HHG——全局角度切线； : 60PO
XL，YL，ZL，ZZL，HHL——对应局部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； [ ]3xb`<&
XE，YE，ZE，ZZE，HHE——对应外部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； q,aWF5m@
ERROR——这种像差与其他像差有很大的不同，只能单独使用，不能定义其他像差。它的目的是纠正目前出现光线故障，因此无法正常优化的镜头。 baR{
DSLOPE——该像差追迹一条光线，以找到目标表面的截距坐标，返回值是表面本身在截点处的斜率，总是正的。并且以度为单位。这是为了帮助避免过于陡峭的表面可能难以统一覆盖。 qAR~j s`5
HBRAGG——是HOE的光线截角和构造角之间的差值，其是布拉格角。用弧度表示。 "Z &qOQg%3
PL——沿给定表面与前表面之间的光线的物理长度； r$k
*:A$%
OPL——给出任意两个表面之间的光程长度； W$:;MY>0f
ILLUM——这个像差比较给定视场的照明和轴上的照明。 "SLN8x49(
HBAR——Y方向上物高分数坐标； "!E(= W?
XEN——X方向上入瞳分数坐标； ~M(K{6R
YEN——Y方向上入瞳分数坐标； bt%k; Z]
GBAR——X方向上物高分数坐标； B xG0vJN |
SN——计算光线截距的表面编号。默认为像面。 D G7FG--
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