用户可以通过以下输入指定个别光线进行校正，但是需添加在M、MF、L或LL等行之后。 wQS w&G
JP*wi -8D
{ A / S / MUL / DIV } { ICOL / P } name HBAR XEN YEN GBAR [ SN ] bme#G{[)Y
其中name为： 5@rqU(]<
|nZB/YZt
A、 S、 MUL 和 DIV确定如何将该部分像差与任何先前的像差部分组合来构成一个组合。(加、减、乘、除)。 MC)W?
ICOL——波长编号。可用“P”代替主波长，但不能用“Ｍ”。 [gr[0aG Bc
YA——光线Y坐标实际值； 'xI+kyu
YC——主光线在主波长下的Y坐标； ZO6bG$y64
YP——主光线在设置波长下的Y坐标； Kf<_A{s
XA——光线X坐标实际值； y] r~v
XC——主光线在主波长下的X坐标； @!NHeH=pR
XP——主光线在设置波长下的X坐标； /,%o<Ql9
ZA——光线Z坐标实际值； G.ARu-2's
OPD——光程差，单位为waves； =0fx6V
OPP——光线差； R* G>)YH
RA——从光轴到光线截距的径向距离。总是正值； Tka="eyIj3
RC——光线截距与主光线在主波长下的距离。总是正值； oOSyO D
ZZ——经表面折射后的光线路径在X-Z平面上投影的角度正切值； (lsod#wEMg
HH——经表面折射后的光线路径在Y-Z平面上投影的角度正切值； l8lR 5<
UNI——在表面折射之前，表面上的光线入射角，单位为度，总是正值； ,lYU #Hx*
UNR——经表面折射后的光线角度； v86`\K*0Y
HFREQ——HOE或光栅的局部光栅频率；这是沿着条纹平面测量的； y Vv3S[J
HSFREQ——光栅频率是沿着表面测量的，而不是普通平面； "A`'~]/hE
FLUX——光通量； Z'm%3
XG，YG，ZG——光线的全局（X，Y，Z）坐标； 0nnq/u^
ZZG，HHG——全局角度切线； ?\ VN`8Yb
XL，YL，ZL，ZZL，HHL——对应局部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； 4DM|OL`w
XE，YE，ZE，ZZE，HHE——对应外部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； (uz!:dkvx
ERROR——这种像差与其他像差有很大的不同，只能单独使用，不能定义其他像差。它的目的是纠正目前出现光线故障，因此无法正常优化的镜头。 1vudT&
DSLOPE——该像差追迹一条光线，以找到目标表面的截距坐标，返回值是表面本身在截点处的斜率，总是正的。并且以度为单位。这是为了帮助避免过于陡峭的表面可能难以统一覆盖。 b>._ r&.
HBRAGG——是HOE的光线截角和构造角之间的差值，其是布拉格角。用弧度表示。 zb)SlR
PL——沿给定表面与前表面之间的光线的物理长度； F >R)~;Ja
OPL——给出任意两个表面之间的光程长度； 9Bw5 t@
ILLUM——这个像差比较给定视场的照明和轴上的照明。 w.- i !Ls
HBAR——Y方向上物高分数坐标； h!%`odl%
XEN——X方向上入瞳分数坐标； i PYlTV
YEN——Y方向上入瞳分数坐标； T5+b{qA
GBAR——X方向上物高分数坐标； hG3Lj7)UH
SN——计算光线截距的表面编号。默认为像面。 ?+L6o C.;
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