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摘要 #|qm!aGs
[RAj3Fr0 通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 %x&F4U
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Z;hyi'rPJ 从Zemax OpticStudio®导入透镜系统 f2NA=%\ - 从Zemax导入光学系统 [用例] $4=Ne3 y 分析实际透镜系统的成像性能 z VdKYs i^ - 分析高NA物镜聚焦 [用例] xJ-*%'(KZ 使用Debye-Wolf积分作为参考 y =R
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