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Essential Macleod 是一套完备的光学薄膜分析与设计的软件包，可以在所有 64/位32 位的Microsoft Windows操作系统下运行，并且具有真正的多文档操作界面；它能满足光学镀膜设计中的各种要求，从简单的单层膜到严格的分光膜；也能对波分复用（WDM）和密集波分复用（DWDM）滤波片进行测评；可以从头开始设计也可以优化已有的设计；可以勘测在设计中的误差，也可以萃取设计用到的光学薄膜常数。 Fb&WwGY,P
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l/1  q;#:nf" Essential Macleod核心模块的功能 9Ls=T=96 Bn?MlG;aA •计算给定膜系的特性 [>wvVv 1H]E:Bq •对给定特性目标要求优化膜系设计 ruTj#tWSo y&{ Z"+B5 •维护材料的光学常数 nk^-+o lm $mZpX:7/u8 •对已有设计进行分析 %5|DdpES }}MZg m~U) •膜系设计的合并分析 JwM Fu5 @ U7@)R J Essential Macleod可扩展的功能 5X=ik7m^ h(H b+7g Runsheet PP_fTacX -|x Y T+?% 这个工具可设计镀膜制程，包含机器配置编辑器以及跑单生成器。机器配置中贮存了镀膜机的详细设置，材料源以及制具因子（Tooling）以及监控系统。使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置，进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外，还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。 dpI9DzA; ~s UWXw7~ Simulator ;_<K>r* ZFO*D79:K 对于公差问题， Simulator 通过蒙特卡罗（Monte Carlo）法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划， Simulator 可模拟薄膜淀积控制，引入随机和系统效应，例如信号噪声，加工因子的变动，封装密度误差等等，以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。 r(uf yC& 2=p"%YSn Monitorlink P|{Et=R`1 H] JVv8 Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接，而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。 .vJ t&@NO VStack _mSQ>BBRl V|mz]H #| VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时，初始为 p- 偏振态的光线最终会以 p - 偏振态从系统出射。同理，原本是 s - 偏振态光也会以 p - 偏振态出射，我们称此为 偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。 VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。 Vuu_Sd d?_LNSDo Function $bv l.c {po f=G 一些法向反射﹑透射，或是相位的计算通常需要非常庞大的计算量才能求得结果。电子数据表并不是一种合适的解法，一方面因为它不方便进行插值操作，另一方面在处理不同数量的数据组字时会有困难。但 Function 可以完全自动计算，其简单宏指令中的操作 ( 具有内建的编辑器和语法检查器 ) 能允许一再重复相同的计算。 L.M|o UZq1qn@+ DWDM Assistant )ls<"WTC. 1=X"|`<! DWDA Assistant 可自主设计一组多腔滤波片，以满足用户的不同规格，设计结果可以根据一些诸如总厚度、预计淀积时间等等规范排序。 t4E= `*hrU{b
;r}>1LhN 原文链接：http://www.infotek.com.cn/html/7/20130114356.html wRi` L7 sX aIQhZ 购买与相关软件试用请联系QQ：1824712522 \ dIQhF%%2
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