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摘要 ]RwpX ^ 1 3#WT.4k [xbSYu,& To\QjP- 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ,[N%Q# k6;?)~. 建模任务 -m\u xI{)6t$` ud63f`W]4 0B[="rTS7# 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,j#XOy`mzy gl~ecc uY{|szC^2 }V'}E\\ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 aJSO4W)P q?Cnav`DY
|{&{ kc2PoJ 文件信息 l.(v^3:X UI0(=>L ,D5cjaX< biL s+\C R$EW4]j jxP;>K7O zp6C3RG( 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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