|
摘要 K[;,/:Y \C\y'H5 9l^ p`.fYW:p 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Jz8#88cY J3S byI!T 建模任务 @DKl<F ph'SS=!. <EN[s (2\ekct ^ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 `e;Sjf< ;}9Ws6#XQs cZF;f{t QS?9&+JM | 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 7
,~Krzv H9m2Whq 8ewEdnE ['`'&+x&! 文件信息 _Wsk3AP X_S]8Aa ~(P\F&A(& O.f3 (e! 5*'N Q010 a9JJuSRC x(6.W"-S 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|